[发明专利]一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法

说明书

本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法；其通过将测试机和标准机测试所得的n对数组进行对数运算处理，然后再进行曲线拟合得到对应的拟合曲线函数，在实际测试时将实测数据对数运算处理后代入拟合曲线函数得到对应的值，最后再进行乘幂计算得到校准后的数值；通过上述校准方法，使得不论是在荧光信号强度值较低时，还是在荧光信号强度值较高时，所得校准后的数值的偏差都在3％以内，校准偏差极低；可以非常好地适用常见的低值区间荧光免疫检测指标，适用范围宽，使得最终检测结果更加准确及提升仪器检测的准确性，有效解决现有校准方法在荧光信号强度值低时校正偏差过大的问题。

技术领域

本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法。

背景技术

行业内通常采用荧光免疫分析仪进行荧光免疫检测，仪器由于自身因素如光源等，使得出厂的各台仪器之间的检测结果存在一定的差异，因此需要对检测结果进行校准从而解决荧光免疫分析仪的台间差。

现有的校准方法是通过采用一套质控条，在待出厂的荧光免疫分析仪和标准机上分别测试得到荧光强度值(或比值)，分别记为实测值和标称值，将实测值和标称值直接进行一元线性拟合得到标准曲线，在荧光免疫分析仪检测时通过将实测值代入上述标准曲线方程即可得到校准后的测试数据。

对于荧光免疫分析仪的检测中，检测指标的浓度一般都特别低，使得荧光信号强度值大多情况下处于低值区间。而上述现有的校准方法在校准低值区间信号强度时偏差过大，即其完全不能适用低值区间的检测校准，因此这种校准方法适用范围较窄，针对常见的荧光免疫检测指标，其校正偏差过大，导致最终检测结果非常不准确。

故，现有技术具有较大的改进空间。

发明内容

本发明的目的是为了弥补现有技术的不足，提出一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法。

为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，包括以下步骤：

(1)准备n个不同浓度的样本，将每个样本分别在测试机和标准机上进行测试，得到n个测试值T和n个标称值S，即有n对数组(T，S)；

(2)将步骤(1)中得到的n对数组(T，S)按对数运算公式：L_T＝log_a(T)、L_S＝log_a(S)分别进行对数运算，得到n对新数据(L_T，L_S)；

(3)曲线拟合：将步骤(2)得到的n对数据(L_T，L_S)以L_S为纵坐标、L_T为横坐标，从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R²≥0.95且为最大的一种曲线进行拟合，得到对应的拟合曲线函数；

(4)将待测试样本在测试机中进行测试，得到实测的荧光信号强度值，所述实测的荧光信号强度值进行步骤(2)的对数运算得到L_T’，将所述实测的荧光信号强度值L_T’代入步骤(3)中拟合曲线函数的L_T中得到对应的L_S’值，再将所述L_s’值进行乘幂计算，得到经过校准后的数值T_c＝a^Ls’。

根据以上方案，步骤(1)中不同浓度的样本至少为5个。

根据以上方案，步骤(1)中测试值T、标称值S分别为单个浓度的样本在测试机、标准机测试多次后所得的平均值。通过单个浓度的样本在测试机、标准机测试多测后取平均值，能进一步减少误差，提高校准的准确性。