[发明专利]一种氮化镓基有源器件的保护环有效
| 申请号: | 202011271888.4 | 申请日: | 2020-11-13 |
| 公开(公告)号: | CN112382625B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
| 发明(设计)人: | 邹宇;陈志坚;赖俊凯;李斌 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
| 主分类号: | H01L23/58 | 分类号: | H01L23/58;H01L23/66;H01L29/778 |
| 代理公司: | 广州海心联合专利代理事务所(普通合伙) 44295 | 代理人: | 黄为;冼俊鹏 |
| 地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 氮化 有源 器件 保护环 | ||
1.一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,包括设置在衬底上围成闭环的欧姆接触层,所述欧姆接触层上层叠第一金属层;所述的第一金属层通过纵向通孔连接上方的第二金属层,所述第二金属层设有微带线,所述微带线串接集总电容后与接地通孔电性连接;
所述微带线、集总电容和接地通孔进行串联后构成串联RLC谐振网络;通过调节集总电容的大小,令串联RLC谐振网络在谐振频率附近的阻抗达到最小值。
2.根据权利要求1所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的第一金属层或第二金属层或欧姆接触层或纵向通孔由TiPtAu制成。
3.根据权利要求1所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的第一金属层厚度为600nm至700nm。
4.根据权利要求3所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的第一金属层厚度为650nm。
5.根据权利要求1所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的第二金属厚度为1.05um至1.45um。
6.根据权利要求5所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的第二金属层厚度为1.25um。
7.根据权利要求1所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的欧姆接触层厚度为180nm至240nm。
8.根据权利要求7所述一种氮化镓基有源器件的保护环,其特征在于,所述的欧姆接触层厚度为210nm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011271888.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





