[发明专利]二值采样的处理方法及装置、对抗样本的生成方法及装置

说明书

本发明提供一种二值采样的处理方法及装置、对抗样本的生成方法及装置；其中，该二值采样的处理方法包括：确定第一采样概率；根据所述第一采样概率确定触发信号参数的取值；向随机存储器输入所述触发信号以触发执行写操作；其中，所述写操作成功的概率与所述触发信号参数的取值关联；在所述写操作成功的情况下，产生第一随机数；在所述写操作未成功的情况下，产生第二随机数，其中，所述第一随机数和所述第二随机数为二值数据中的数据。通过本申请，解决了现有技术中通过持续输出脉冲信号以产生随机数，导致产生随机数的过程能耗大以及资源占用大的问题。

技术领域

本发明涉及计算机领域，涉及一种二值采样的处理方法及装置、对抗样本的生成方法及装置。

背景技术

目前，通过二值采样产生随机数的常用方式是：持续输出脉冲信号，并在需要产生随机数时，读取当前脉冲信号的数值，将当前采集到的数值作为随机数。但是这种产生随机数的方式无法确定随机数产生的概率。

发明内容

本申请实施例提供了一种二值采样的处理方法及装置、对抗样本的生成方法及装置，以解决现有技术中通过持续输出脉冲信号以产生随机数，导致产生随机数的过程能耗大以及资源占用大的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，提供了一种二值采样的处理方法，包括：确定第一采样概率；根据所述第一采样概率确定触发信号参数的取值；向随机存储器输入所述触发信号以触发执行写操作；其中，所述写操作成功的概率与所述触发信号参数的取值关联；在所述写操作成功的情况下，产生第一随机数；在所述写操作未成功的情况下，产生第二随机数，其中，所述第一随机数和所述第二随机数为二值数据中的数据。

第二方面，提供了一种对抗样本的生成方法，包括：对第一样本进行梯度下降处理，得到所述第一样本的第一梯度，其中，所述第一样本中的样本数据为二值数据，所述第一梯度中的数据为连续数值；对所述第一梯度中的数据的绝对值进行归一化处理，得到第二梯度；其中，所述第二梯度中的数据为大于或等于零的连续数值；通过第一方面所述二值采样的处理方法对所述第二梯度中的数据进行二值采样，得到第三梯度，其中，所述二值采样的采样概率由所述第二梯度中的数据确定；所述第三梯度中的数据为二值数据；提取所述第一梯度中目标位置的数据的目标符号，并将所述目标符号添加到所述第三梯度中与所述目标位置对应的数据上；将所述第一样本中的样本数据与添加符号后的第三梯度中的数据结合，以生成目标对抗样本；其中，所述目标对抗样本中的样本数据的为二值数据。

第三方面，提供了一种二值采样的处理装置，包括：控制器，用于确定第一采样概率，并根据所述第一采样概率确定触发信号参数的取值；随机存储器，用于接收所述触发信号以触发执行写操作；其中，所述写操作成功的概率与所述触发信号参数的取值关联；所述控制器，还用于在所述写操作成功的情况下，产生第一随机数；在所述写操作未成功的情况下，产生第二随机数，其中，所述第一随机数和所述第二随机数为二值数据中的数据。

第四方面，提供了一种对抗样本的生成装置，包括：第一处理模块，用于对第一样本进行梯度下降处理，得到所述第一样本的第一梯度，其中，所述第一样本中的样本数据为二值数据，所述第一梯度中的数据为连续数值；归一化模块，用于对所述第一梯度中的数据的绝对值进行归一化处理，得到第二梯度；其中，所述第二梯度中的数据为大于或等于零的连续数值；第三方面中的二值采样的处理装置，用于对所述第二梯度中的数据进行二值采样，得到第三梯度，其中，所述二值采样的采样概率由所述第二梯度中的数据确定；所述第三梯度中的数据为二值数据；第二处理模块，用于提取所述第一梯度中目标位置的数据的目标符号，并将所述目标符号添加到所述第三梯度中与所述目标位置对应的数据上；生成模块，用于将所述第一样本中的样本数据与添加符号后的第三梯度中的数据结合，以生成目标对抗样本；其中，所述目标对抗样本中的样本数据的为二值数据。