[发明专利]缺陷检测方法和装置在审

专利信息
申请号: 202011268394.0 申请日: 2020-11-13
公开(公告)号: CN112365477A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 孙猛猛;纪旭宇;郭宁;韩锦;潘正颐;侯大为 申请(专利权)人: 常州微亿智造科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/181;G06T3/40;G06T7/62;G06F16/56
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 张励
地址: 213016 江苏省常州市钟*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置
【说明书】:

发明提供一种缺陷检测方法和装置,所述方法包括以下步骤:获取产品图像,并将产品图像转换为矢量图;获取矢量图的位置参数,其中,位置参数包括:尺寸、像素和坐标中的一种或多种;根据矢量图的位置参数对矢量图进行处理,以获取缺陷轮廓。本发明的缺陷检测方法,能够满足复杂的业务场景下的缺陷数据的获取,极大降低了数据标注过程中各种坐标误差导致的数据不精准问题。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域,具体涉及一种缺陷检测方法、一种缺陷检测装置、一种计算机设备和一种非临时性计算机可读存储介质。

背景技术

由于目前的业务场景中有各式各样的缺陷产品图像,而缺陷数据的获取越来越复杂,这使得在标注时,不仅费时费力,而且标注结果不精确。

发明内容

本发明为解决上述技术问题,提供了一种缺陷检测方法,能够满足复杂的业务场景下的缺陷数据的获取,极大降低了数据标注过程中各种坐标误差导致的数据不精准问题。

本发明采用的技术方案如下:

一种缺陷检测方法,包括以下步骤:获取产品图像,并将所述产品图像转换为矢量图;获取所述矢量图的位置参数,其中,所述位置参数包括:尺寸、像素和坐标中的一种或多种;根据所述矢量图的位置参数对所述矢量图进行处理,以获取缺陷轮廓。

根据本发明的一个实施例,根据所述矢量图的位置参数对所述矢量图进行处理,包括:当所述矢量图的尺寸小于预设阈值时,将所述矢量图放大第一预设比例;当所述矢量图的尺寸大于或者等于所述预设阈值时,将所述矢量图缩小第二预设比例。

根据本发明的一个实施例,根据所述矢量图的位置参数对所述矢量图进行处理,包括:获取所述矢量图的边缘坐标;判断所述矢量图的边缘坐标是否处于预设范围内;如果存在边缘坐标未处于所述预设范围内时,获取该边缘坐标与所述预设范围之间的距离;根据所述距离移动所述矢量图,以使所述矢量图完全处于预设范围内。

根据本发明的一个实施例,在对所述矢量图进行缩小、放大或者移动时,采用逐帧动画的方式对所述矢量图进行放大、缩小或者移动。

根据本发明的一个实施例,获取缺陷轮廓,包括:采用光标定位方式对处理后的矢量图中的缺陷进行定位;获取光标沿缺陷移动时的坐标;依次将坐标相连,得到缺陷轮廓。

根据本发明的一个实施例,在得到缺陷轮廓之后,还包括:按照对所述矢量图进行处理的步骤,将得到的缺陷轮廓的坐标进行还原,以得到原始矢量图中的缺陷坐标。

根据本发明的一个实施例,将所述产品图像转换为矢量图,包括:将所述产品图像转换为二进制文件流;将所述二进制文件流转换为base64的图像数据;通过浏览器的附加功能将所述base64的图像数据转为矢量图。

本发明还提出了一种缺陷检测装置,包括:第一获取模块,用于获取产品图像;转换模块,用于将所述产品图像转换为矢量图;第二获取模块,用于获取所述矢量图的位置参数,其中,所述位置参数包括:尺寸、像素和坐标中的一种或多种;处理模块,用于根据所述矢量图的位置参数对所述矢量图进行处理,以获取缺陷轮廓。

本发明还提出了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时,实现根据上述的缺陷检测方法。

本发明还提出了一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述的缺陷检测方法。

本发明的有益效果:

本发明首先获取产品图像,并将产品图像转换为矢量图;获取矢量图的位置参数,并根据矢量图的位置参数对矢量图进行处理,以获取缺陷轮廓。从而能够满足复杂的业务场景下的缺陷数据的获取,极大降低了数据标注过程中各种坐标误差导致的数据不精准问题。

附图说明

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