[发明专利]显示设备

说明书

根据本发明的方面，一种显示设备包括：第一基板；以及布置在第一基板上的包括第一像素的多个像素。第一像素包括：第一晶体管；与第一晶体管连接的第一电极；第一滤色器，和与第一晶体管连接的第一电极重叠；和第三测量标记，具有颜色并且与第一滤色器重叠，并且第一滤色器具有与第三测量标记的颜色不同的颜色。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年11月14日提交的韩国专利申请第10-2019-0145889号的优先权和权益，在此为了所有目的通过引用将该韩国专利申请并入本文，如同在本文中充分地阐述一样。

技术领域

本发明的示例性实施方式总体上涉及一种显示设备，并且更具体地涉及一种包括用于在显示设备的制造期间测量掩模的对准误差的标记的显示设备。

背景技术

当前已知的平板显示设备包括液晶显示器(LCD)和发光显示设备等。

在这种平板显示设备的制造工艺中形成各种图案，并且使用曝光设备来形成图案。曝光设备根据在图案掩模中形成的图案来曝光物体。

然而，随着显示设备的尺寸增加，由于图案掩模的尺寸限制，存在利用图案掩模一次曝光显示基板的问题。因此，使用了一种用于在显示面板上依次对准多个较小的图案掩模以进行曝光的方法。

在该背景技术部分中公开的以上信息仅用于理解本发明构思的背景，并且因此，其可能包含不构成现有技术的信息。

发明内容

申请人认识到，当在显示设备的制造工艺中依次对准各个图案掩模时，在各个图案掩模的边界处可能发生图像畸变，并且具体地发现位于显示区域外部的对准图案不能准确地测量掩模的畸变。

根据本发明的原理和示例性实施方式构造的显示设备通过测量在显示设备的制造工艺期间发生的掩模的对准误差，减少了各个图案掩模的边界处的图像畸变。例如，无论何时使用多个掩模来制造显示设备，都可以通过放置标记(诸如显示区域内的对准图案)来准确地测量并补偿对准误差。

本发明构思的附加特征将在下面的描述中阐述，并且部分地根据该描述将是显而易见的，或者可以通过本发明构思的实践来习得。

根据本发明的方面，显示设备包括：第一基板；以及布置在第一基板上的包括第一像素的多个像素。第一像素包括：第一晶体管；与第一晶体管连接的第一电极；第一滤色器，和与第一晶体管连接的第一电极重叠；和第三测量标记，具有颜色并且与第一滤色器重叠，并且第一滤色器具有与第三测量标记的颜色不同的颜色。

多个像素可以进一步包括第二像素和第三像素，第二像素包括：第二晶体管；与第二晶体管连接的第一电极；第二滤色器，具有颜色并且和与第二晶体管连接的第一电极重叠；和第一测量标记，与第二滤色器重叠，第一测量标记具有与第二滤色器的颜色不同的颜色，并且第三像素包括：第三晶体管；与第三晶体管连接的第一电极；第三滤色器，具有颜色并且和与第三晶体管连接的第一电极重叠；和第二测量标记，与第三滤色器重叠，该第二测量标记具有与第三滤色器的颜色不同的颜色。

第一滤色器和第一测量标记由于通过同一工艺形成而可以具有相同的颜色，第二滤色器和第二测量标记由于通过同一工艺形成而可以具有相同的颜色，并且第三滤色器和第三测量标记由于通过同一工艺形成而可以具有相同的颜色。

第一测量标记、第二测量标记和第三测量标记可以分别包括第一测量图案、第二测量图案和第三测量图案，并且第一滤色器和第一测量图案的颜色可以是红色，第二滤色器和第二测量图案的颜色可以是绿色，并且第三滤色器和第三测量图案的颜色可以是蓝色。

第一基板可以包括由n-1条虚拟边界线划分的n个区域，并且第一像素、第二像素和第三像素可以位于虚拟边界线的相对边缘。