[发明专利]一种表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法在审

专利信息
申请号: 202011264418.5 申请日: 2020-11-12
公开(公告)号: CN112666335A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 丁向东;陈灿;孙院军;孙军;孙博宇 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N33/2022 分类号: G01N33/2022;G01N33/204;G01N27/00;G01N23/2208;G01N23/2202;G01N3/42;G01N1/32
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 安彦彦
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 表征 通量 合金 尺度 性能 方法
【权利要求书】:

1.一种表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1,高通量钼合金制备:

通过粉末冶金固液掺杂的方式制备掺杂不同质量分数稀土金属氧化物的钼合金棒材,将掺杂不同质量分数稀土金属氧化物的钼粉呈成分梯度方式制成一根钼棒,取其中两种不同成分之间形成的成分过渡区作为条状样品;

步骤2,表征高通量钼合金表面微观组织及成分:

将步骤1中得到的成分过渡区的条状样品表面抛光处理,去除表面划痕,用钼合金腐蚀液对表面进行腐蚀;

钼条表面均分为若干个1×1mm的小正方形区域,利用电子显微镜+电子能谱扫描样品表面小区域,分别拍照得到不同区域不同掺杂成分的钼合金微观组织和掺杂稀土金属氧化物含量;

统计不同区域晶粒大小,建立稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸之间的关系;

步骤3,表征高通量钼合金微区耐腐蚀性:

将步骤1中得到的成分过渡区的条状样品表面抛光处理,去除表面划痕,利用扫描开尔文探针测量方法对样品表面进行扫描,得到金属表面电位的变化数据点;

将样品表面以1×1mm为一个单位均分为若干个单元,计算每个单元的平均电位值;将样品表面耐腐蚀数据与步骤2中的稀土金属氧化物含量和钼合金晶粒尺寸进行对应,建立稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸-耐蚀性之间的关系;

步骤4,表征高通量钼合金微区硬度:

将步骤1中得到的成分过渡区的条状样品表面抛光处理,去除表面划痕,将钼条表面均分为若干个1×1mm的小正方形区域,用维氏硬度计,设置压力值为300g,压痕时间为15s对样品表面硬度进行测试;

每个小区域取3个以上的点测试,取平均值定为该区域硬度值;将硬度值与上述稀土金属氧化物成分-晶粒尺寸-耐蚀性进行一一对应,建立稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸-耐蚀性-硬度之间的关系;

步骤5,整理数据建立数据库:

将上述步骤测得的稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸-耐蚀性-硬度各个特征的数据点一一对应,通过机器学习的手段拓展为一个稀土钼合金多尺度性能数据库。

2.根据权利要求1所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述稀土金属氧化物为氧化镧或氧化铈。

3.根据权利要求1所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述钼合金腐蚀液为按照质量分数为10%的铁氰化钾和10%的氢氧化钠配制而成。

4.根据权利要求1所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述步骤2中,对样品表面在室温下腐蚀40-60s。

5.根据权利要求1所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述扫描开尔文探针测量方法对样品表面进行扫描的步长为0.1mm,即每0.1mm取一电位值。

6.根据权利要求1所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,不同成分之间形成的成分过渡区内稀土金属氧化物质量分数存在含量由低至高递增或由含量高至低递减的分布,各区域对应的多尺度性能也随之变化。

7.根据权利要求6所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸之间的关系为,随稀土金属氧化物含量增加钼合金晶粒尺寸减小。

8.根据权利要求6所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸-耐蚀性之间的关系为,随稀土金属氧化物含量增加,钼合金晶粒尺寸减小,耐蚀性增强。

9.根据权利要求6所述的表征高通量钼合金多尺度微区性能的方法,其特征在于,所述稀土金属氧化物含量-钼合金晶粒尺寸-耐蚀性-硬度之间的关系为,随稀土金属氧化物含量增加,晶粒尺寸减小,耐蚀性增强,硬度增大。

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