[发明专利]3维测量装置及3维测量方法

说明书

本发明缩短直至得到物体的3维形状的信息为止的时间。3维测量装置具有：投影装置，其对物体照射图案光；多个拍摄装置，它们配置为对图案光所照射到的物体的整个区域进行拍摄，多个拍摄装置分别对物体的局部的区域进行拍摄；以及控制装置，其从多个拍摄装置分别取得物体的局部的区域的图像数据，并且对与多个图像数据相对应的物体的局部的区域的3维形状进行计算，将计算出的多个物体的局部的区域的3维形状合成而对物体的整体的形状进行确定。

技术领域

本发明涉及3维测量装置及3维测量方法。

背景技术

如专利文献1所公开那样，已知下述技术，即，从多个方向对物体照射图案光，对物体的3维形状进行测量。

专利文献1：日本特开2003－202296号公报

物体由拍摄装置进行拍摄。拍摄装置与照射出图案光的照射装置一起配置于头部，一边在物体上扫描一边对物体进行拍摄。因此，有可能直至拍摄装置对物体的整体进行拍摄为止而耗费时间。

发明内容

本发明的目的在于，缩短直至得到物体的3维形状的信息为止的时间。

按照本发明，提供一种3维测量装置，该3维测量装置具有：投影装置，其对物体照射图案光；多个拍摄装置，它们配置为对所述图案光所照射到的所述物体的整个区域进行拍摄，多个拍摄装置分别对所述物体的局部的区域进行拍摄；以及控制装置，其从多个所述拍摄装置分别取得所述物体的局部的区域的图像数据，并且对与多个所述图像数据相对应的所述物体的局部的区域的3维形状进行计算，将计算出的多个所述物体的局部的区域的3维形状合成而对所述物体的整体的3维形状进行确定。

发明的效果

根据本发明，目的在于缩短直至得到物体的3维形状的信息为止的时间。

附图说明

图1是表示第一实施方式所涉及的3维测量装置的一个例子的示意图。

图2是表示照射装置的结构的一个例子的图。

图3是表示拍摄装置的结构的一个例子的图。

图4是表示第一实施方式所涉及的3维测量装置的拍摄装置的配置的一个例子的示意图。

图5是表示第一实施方式所涉及的3维测量装置的拍摄装置的拍摄范围的一个例子的图。

图6是表示第一实施方式所涉及的3维测量装置的控制装置的结构的一个例子的功能框图。

图7是表示第一实施方式所涉及的3维测量方法的一个例子的流程图。

图8是表示第一实施方式所涉及的条纹图案的一个例子的图。

图9是表示第一实施方式所涉及的投影了图案的物体的图像数据的一个例子的图。

图10是表示第一实施方式所涉及的图像数据的像素的亮度的一个例子的图。

图11是示意地表示第一实施方式所涉及的相对相位值及绝对相位值的一个例子的图。

图12是表示第一实施方式所涉及的葛莱码图案的一个例子的图。

图13是表示第一实施方式所涉及的投影了葛莱码图案的物体的图像数据的一个例子的图。

图14是表示第一实施方式所涉及的第一图像数据的亮度变化、第二图像数据的亮度变化、通过将多个葛莱码图案合成而生成的条纹次数码、条纹次数之间的关系的图。

图15是表示第二实施方式所涉及的3维测量装置的一个例子的图。

图16是表示第二实施方式所涉及的3维测量装置的拍摄装置的拍摄范围的一个例子的图。