[发明专利]一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置及粗糙度测量方法有效

专利信息
申请号: 202011240410.5 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112342851B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 陈宪麦;徐磊;彭俊;董春敏;李赛;盘柳;陈楠;王日吉 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: E01B35/00 分类号: E01B35/00
代理公司: 长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 代理人: 杨斌
地址: 410083 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 板式 轨道 摊铺层 粗糙 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置,其特征在于,包括框架(2)和测量组件(4),所述测量组件(4)与框架(2)之间设置有第一移动组件和第二移动组件,所述测量组件(4)通过第一移动组件在框架(2)内沿X轴移动,所述测量组件(4)通过第二移动组件在框架(2)内沿Y轴移动;所述测量组件(4)包括可沿垂直方向移动的探针(53)和可显示所述探针(53)移动量的深度表(56),所述探针(53)尖端为可滚动的滚珠结构;所述框架(2)为方形结构,所述框架(2)设置有多个可调节高度的支撑腿(6),支撑腿6内滑动连接有可调齿腿(71),可调齿腿(71)之间连接有横杆(9),且所述框架(2)的每条边上以及每根横杆(9)上均设置有水平仪(21);所述第一移动组件包括设置在框架(2)上的第一移动槽(22)和测试台架(3),所述测量组件(4)安装在测试台架(3)上,所述测试台架(3)在第一移动槽(22)内滑动;所述测试台架(3)上设置有第一刻度指针(24),所述框架(2)上设置有可显示所述第一刻度指针(24)和测试台架(3)在框架(2)内沿X轴的位置的第一刻度表(23);所述第二移动组件包括设置在所述测试台架(3)上的第二移动槽(35)和转盘移动机构,所述转盘移动机构包括转盘(55)、连杆(47)、动力传输杆(54)和滑轮(49),所述滑轮(49)通过连杆(47)连接在所述测量组件(4)底部,且所述滑轮(49)在第二移动槽(35)内滑动,所述连杆(47)上固定有齿轮(48),所述齿轮(48)与动力传输杆(54)啮合,并带动所述连杆(47)和滑轮(49)随着动力传输杆(54)的转动而转动;所述动力传输杆(54)一端与转盘(55)固定,所述转盘(55)上设置有可显示所述测量组件(4)在框架(2)内沿Y轴位置的第二刻度表(57);

所述深度表(56)、第一刻度表(23)和第二刻度表(57)均通过电子显示屏显示其数值,且所述深度表(56)、第一刻度表(23)和第二刻度表(57)的电子显示屏均与电子设备通讯连接并将其数值发送至电子设备。

2.一种板式轨道摊铺层粗糙度的测量方法,其特征在于,所述测量方法使用权利要求1所述的板式轨道摊铺层粗糙度测量装置进行测量,具体包括以下步骤:

(1)将所述测量装置定位于待测量的板式轨道摊铺层结构的四周;

(2)通过所述测量装置获取粗糙度方位数据(Xi, Yi, Zi);

(3)利用工程绘图软件得出表面粗糙度分布函数F(X, Y, Z),并将表面粗糙度分布函数F(X, Y, Z)导入有限元软件进行三维建模,即得板式轨道摊铺层的粗糙度位移图。

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