[发明专利]电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座在审
申请号: | 202011230806.1 | 申请日: | 2020-11-06 |
公开(公告)号: | CN113030598A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 汐田夏基;峯尾浩之 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 张黎;龚敏 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 部件 测试 装置 及其 更换 以及 插座 | ||
1.一种电子部件测试装置,对被测试电子部件DUT进行测试,所述DUT具有设备天线和形成于第一主面的端子,
所述电子部件测试装置具备:
插座,其能够与所述DUT电连接;
第一布线板;以及
测试器,其具备装配有所述第一布线板的测试头,
所述插座具备:
第一插座,其配置为与所述第一主面对置,并能够与所述DUT电连接;以及
第二插座,其安装于所述第一布线板,与所述DUT的所述第一主面的相反侧的第二主面抵接,并能够与所述第一插座电连接,
所述第二插座具备:
基部,其与所述DUT的所述第二主面抵接;以及
测试天线,其与所述测试器电连接,并配置为与所述设备天线对置,
在所述DUT与所述第一插座电连接并且所述第一插座经由所述第二插座与所述测试头电连接的状态下,所述测试器通过在所述设备天线与所述测试天线之间收发电波来对所述DUT进行测试。
2.一种电子部件测试装置,对被测试电子部件DUT进行测试,所述DUT具有设备天线和形成于第一主面的端子,
所述电子部件测试装置具备:
插座,其能够与所述DUT电连接;
第一布线板,其具有第一开口;以及
测试器,其具备装配有所述第一布线板的测试头,
所述插座具备:
第一插座,其配置为与所述第一主面对置,能够与所述DUT电连接,并且能够与所述第一布线板电连接;以及
第二插座,其经由所述第一开口从所述第一布线板露出,与所述DUT的所述第一主面的相反侧的第二主面抵接,
所述第二插座具备:
基部,其与所述DUT的所述第二主面抵接;以及
测试天线,其与所述测试器电连接,并且配置为与所述设备天线对置,
在所述DUT与所述第一插座电连接并且所述第一插座经由所述第一布线板与所述测试头电连接的状态下,所述测试器通过在所述设备天线与所述测试天线之间收发电波来对所述DUT进行测试。
3.根据权利要求1或2所述的电子部件测试装置,其中,
所述第二插座具备对从所述设备天线或测试天线辐射的电波进行衰减的第一衰减构件,
所述第一衰减构件介于所述测试天线与所述设备天线之间。
4.根据权利要求1或2所述的电子部件测试装置,其中,
所述设备天线包括设置于所述第二主面的第一设备天线,
所述测试天线包括配置为与所述第一设备天线对置的第一测试天线,
所述基部具有使所述第一测试天线与所述第一设备天线对置的第二开口。
5.根据权利要求4所述的电子部件测试装置,其中,
所述第二插座具备:
第二衰减构件,其设置于所述第二开口的内表面,对从所述第一设备天线或所述第一测试天线辐射的电波进行衰减;以及
屏蔽层,其设置于所述基部的外表面,屏蔽来自外部的电波。
6.根据权利要求1或2所述的电子部件测试装置,其中,
所述第一测试天线是具备基板、设置在所述基板上的辐射元件、以及设置在所述基板上且与所述辐射元件连接的布线图案的贴片天线。
7.根据权利要求1或2所述的电子部件测试装置,其中,
所述设备天线包括设置在所述DUT的侧部的第二设备天线,
所述测试天线包括配置为与所述第二设备天线对置的第二测试天线,
所述第二测试天线相对于所述DUT配置在与所述第一主面实质上平行的方向上。
8.根据权利要求1或2所述的电子部件测试装置,其中,
所述电子部件测试装置还具备电子部件操作装置,所述电子部件操作装置具备移动单元,所述移动单元保持并移动所述DUT,且能够将所述DUT相对于所述插座进行按压。
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