[发明专利]用于红外传感器的测试系统在审
申请号: | 202011216391.2 | 申请日: | 2020-11-04 |
公开(公告)号: | CN112197875A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 武斌;申涛 | 申请(专利权)人: | 深圳市美思先端电子有限公司 |
主分类号: | G01J5/52 | 分类号: | G01J5/52;G01J5/12 |
代理公司: | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 | 代理人: | 廉红果 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公明街道塘家社区观*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 红外传感器 测试 系统 | ||
1.一种用于红外传感器的测试系统,其特征在于,其包括依次设置的输入组件(1)、识别组件(2)、进料组件(3)、测试组件(4)和输出组件(5),红外传感器经过所述输入组件(1)后进入识别组件(2)中,所述识别组件(2)对红外传感器的引脚位置进行识别后将其送入进料组件(3),在所述进料组件(4)中,红外传感器进行引脚分离后进入治具中,所述治具中的红外传感器经测试组件(4)测试后通过输出组件(5)输出。
2.根据权利要求1所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述输入组件(1)包括振动盘(11)、振动臂(12)和接料夹爪(13),所述振动盘(11)和振动臂(12)连接,所述接料夹爪(13)固定在振动臂(12)的端部。
3.根据权利要求2所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述振动盘(11)包括套设的内振圈和外振圈,所述内振圈倾斜设置且靠近中心位置高于边缘位置用于防止红外传感器在振动过程中掉落;所述外振圈倾斜设置且靠近中心位置低于边缘位置。
4.根据权利要求2或者3所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述输入组件(1)进一步包括设置在振动臂(12)两侧的满料感应器(14)和设置在接料夹爪(13)两侧的限位传感器(15)。
5.根据权利要求1所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述识别组件(2)包括中转机械臂(21)和相机(22),所述中转机械臂(21)和相机(22)连接,所述中转机械臂(21)下端设置有第一吸嘴,所述第一吸嘴将红外传感器从输入组件(1)的末端吸起至相机(22)顶部,所述相机(22)确定红外传感器引脚之间的位置。
6.根据权利要求5所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述进料组件(3)包括进料机械臂(31)、修脚夹爪(32)和进料大转盘(33),所述修脚夹爪(32)位于进料机械臂(31)底部用于进行引脚分离,所述进料大转盘(33)位于修脚夹爪(32)的一侧下方。
7.根据权利要求6所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,该测试系统进一步包括中转小转盘(6),所述中转小转盘(6)位于修脚夹爪(32)的另一侧下方;红外传感器通过修脚夹爪(32)进行引脚分离之后,所述中转机械臂(21)将红外传感器送入中转小转盘(6)的孔位(61)中,待传感器插入孔位(61)后,中转小转盘(6)会顺时针旋转,将红外传感器送到靠近进料大转盘(33)的一侧。
8.根据权利要求1所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述测试组件(4)包括红外辐射黑体(41)、挡板(42)、伸缩轴(43)、水冷板(44)、探针(45)、固定板(46)、PCB板(47)以及斩波器(48),红外传感器紧贴所述水冷板(44),所述红外辐射黑体(41)位于红外传感器上方,所述挡板(42)位于红外辐射黑体(41)和红外传感器之间用于阻挡红外辐射黑体(41)直射红外传感器,所述伸缩杆(43)固定在挡板(42)的一端,所述PCB板(47)位于红外传感器下方用于测试红外传感器,所述探针(45)位于固定板(46)上用于连接红外传感器和PCB板(47)。
9.根据权利要求1所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述输出组件(5)包括一出料机械臂,所述出料机械臂。
10.根据权利要求9所述的用于红外传感器的测试系统,其特征在于,所述出料机械臂下方设置有可旋转的第二吸嘴。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市美思先端电子有限公司,未经深圳市美思先端电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011216391.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。