[发明专利]一种发光面板及发光装置有效

专利信息
申请号: 202011205473.7 申请日: 2020-11-02
公开(公告)号: CN112310328B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 秦云科;王雷;李扬冰;张平;王文娟;赵方圆 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H10K50/86 分类号: H10K50/86;H10K59/60
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 黄敏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光 面板 装置
【说明书】:

本公开提供了一种发光面板及发光装置,涉及照明和显示技术领域,用于解决发光面板中环境光对光敏传感器的检测过程产生干扰的问题。该发光面板包括发光图案所在的发光层,设置在发光层远离发光面板的出光面的一侧、包括至少一个感光图案的感光层;发光层与感光半导体层之间设有第一遮光层,第一遮光层上具有多个与发光图案在发光层上正投影有重叠区域的透光口;第一遮光层与感光半导体层之间设有第二遮光层,第二遮光层包括多个第一遮光图案和围绕各第一遮光图案的透光区域,每个第一遮光图案在第一遮光层的正投影与一个透光口具有重叠区域。

技术领域

本公开涉及照明和显示技术领域,尤其涉及一种发光面板及发光装置。

背景技术

发光面板,例如OLED(OrganicLight-Emitting Diode,有机电致发光二极管)显示屏包括多个发光器件,通过对多个发光器件的发光亮度进行控制,从而能够显示画面。

在OLED显示屏的显示画面的过程中,可能会出现残像(Mura)、色偏等显示效果不佳的问题。为提升显示效果,可以利用光学补偿技术对画质进行校正;例如,可以在OLED显示屏中增设光敏传感器,通过光敏传感器对发光器件的实际亮度进行检测,再根据检测到的实际亮度和理论亮度的差异,通过电路和算法等对发光器件的发光亮度进行调整。

然而,环境光会进入OLED显示屏,照射到光敏传感器的表面上,从而对光敏传感器的检测过程造成干扰,导致检测结果不准确。

发明内容

本公开的实施例提供一种发光面板及发光装置,用于解决发光面板中环境光对光敏传感器的检测过程产生干扰的问题。

为达到上述目的,本公开的实施例采用如下技术方案:

第一方面,提供了一种发光面板,包括:第一衬底;设置于所述第一衬底上的发光层,所述发光层包括多个发光图案;感光半导体层,所述感光半导体层位于所述发光层远离所述发光面板的出光面的一侧,所述感光半导体层包括至少一个感光图案;设置于所述发光层与所述感光半导体层之间的第一遮光层,所述第一遮光层具有多个透光口,每个透光口在所述发光层上的正投影与一个所述发光图案具有重叠区域;设置于所述第一遮光层与所述感光半导体层之间的第二遮光层,所述第二遮光层包括多个第一遮光图案,且所述第二遮光层具有围绕各第一遮光图案的透光区域,每个所述第一遮光图案在所述第一遮光层的正投影与一个透光口具有重叠区域;其中,至少一个所述发光图案发出的光线穿过相应的所述透光口和所述透光区域,照射到一个感光图案上。

在一些实施例中,每个所述第一遮光图案在所述第一遮光层的正投影覆盖一个所述透光口。

在一些实施例中,所述第一遮光图案具有第一几何中心,所述第一遮光图案在所述第一遮光层的正投影所覆盖的所述透光口具有第二几何中心;过所述第二几何中心的所述第一衬底的垂面为参考平面;所述参考平面与所述第一遮光图案的边沿具有第一交点,与所述透光口的边沿具有第二交点,所述第一交点与所述第二交点位于过所述第二几何中心的所述第一衬底的垂线同一侧;在所述参考平面中,所述第一交点与所述第二交点的连线与所述第一衬底的垂线之间的夹角为α,θ1≤α<θ2,θ1为外界光线进入所述第一衬底的最大折射角,θ2为所述发光图案的发光角度。

在一些实施例中,所述第一几何中心在所述第一衬底上的正投影与所述第二几何中心在所述第一衬底上的正投影重合。

在一些实施例中,所述第二遮光层还包括:第二遮光图案,所述第二遮光图案与每个第一遮光图案之间形成一个环状的透光子区域,各所述透光子区域构成所述透光区域。

在一些实施例中,所述透光子区域具有第三几何中心,所述参考平面与所述透光子区域的外环边沿具有第三交点,所述第三交点与所述第二交点位于过所述第二几何中心的所述第一衬底的垂线的同一侧;在所述参考平面中,所述第三交点与所述第二交点的连线与所述第一衬底的垂线之间的夹角为γ,γθ2

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