[发明专利]磁环表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种磁环表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测磁环表面图像及对应的缺陷掩码图像；

根据预设的特征提取网络模型对所述待检测磁环表面图像进行特征提取，得到特征提取图像；

根据预设的语义分割网络模型及所述特征提取图像，得到疑似缺陷区域的目标位置的位置信息；

以所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息对所述特征提取图像进行裁剪，得到对应的区域特征图像；

输入所述区域特征图像及所述缺陷掩码图像至预设的分类网络模型，得到对应各所述区域特征图像的预测结果。

2.根据权利要求1所述的磁环表面缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预设的语义分割网络模型及所述特征提取图像，得到疑似缺陷区域的目标位置的位置信息，包括：

输入所述特征提取图像至预设的语义分割网络模型，得到像素级概率图；

以预设阈值从所述像素级概率图过滤出疑似缺陷区域；

根据所述疑似缺陷区域，计算得到所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息。

3.根据权利要求2所述的磁环表面缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述疑似缺陷区域，计算得到所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息，包括：

根据所述疑似缺陷区域，计算得到所述疑似缺陷区域的外接矩形框的位置信息，并以所述疑似缺陷区域的外接矩形框的位置信息作为所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息。

4.根据权利要求3所述的磁环表面缺陷检测方法，其特征在于，所述以所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息对所述特征提取图像进行裁剪，得到对应的区域特征图像，包括：

以所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息对所述特征提取图像进行裁剪，得到对应的裁剪图像；

以预设图像尺寸对所述裁剪图像进行调整，得到对应的区域特征图像。

5.根据权利要求1所述的磁环表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述输入所述区域特征图像及所述缺陷掩码图像至预设的分类网络模型，得到对应各所述区域特征图像的预测结果之后，所述方法还包括：

根据各所述区域特征图像的预测结果，输出缺陷区域的位置信息。

6.根据权利要求1所述的磁环表面缺陷检测方法，其特征在于，所述预设的语义分割网络模型和/或所述预设的分类网络模型以Focal loss作为损失函数。

7.一种磁环表面缺陷检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测磁环表面图像及对应的缺陷掩码图像；

特征提取模块，用于根据预设的特征提取网络模型对所述待检测磁环表面图像进行特征提取，得到特征提取图像；

疑似区域确定模块，用于根据预设的语义分割网络模型及所述特征提取图像，得到疑似缺陷区域的目标位置的位置信息；

图像处理模块，用于以所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息对所述特征提取图像进行裁剪，得到对应的区域特征图像；

缺陷检测模块，用于输入所述区域特征图像及所述缺陷掩码图像至预设的分类网络模型，得到对应各所述区域特征图像的预测结果。

8.根据权利要求7所述的磁环表面缺陷检测装置，其特征在于，所述疑似区域确定模块，具体用于：

输入所述特征提取图像至预设的语义分割网络模型，得到像素级概率图；

以预设阈值从所述像素级概率图过滤出疑似缺陷区域；

根据所述疑似缺陷区域，计算得到所述疑似缺陷区域的目标位置的位置信息。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器及处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行根据权利要求1至6中任一项所述的磁环表面缺陷检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的磁环表面缺陷检测方法。