[发明专利]基于AFM纳米压痕实验获取硬度和弹性模量测量值的方法在审
| 申请号: | 202011194114.6 | 申请日: | 2020-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN112305264A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
| 发明(设计)人: | 陈建超;高玉东;张鑫业;刘博玮;许帅康;安小广 | 申请(专利权)人: | 燕山大学 |
| 主分类号: | G01Q60/24 | 分类号: | G01Q60/24;G01N3/42;G01N3/08 |
| 代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 何圣斐;李洪福 |
| 地址: | 066004 河北省*** | 国省代码: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 afm 纳米 压痕 实验 获取 硬度 弹性模量 测量 方法 | ||
本发明公开了一种基于AFM纳米压痕实验获取硬度和弹性模量测量值的方法,所述方法主要包括载荷‑位移曲线的转化、硬度的计算和弹性模量的计算等步骤,当前AFM设备在完成纳米压痕后仅能将采集到的数据由载荷‑位移转化为载荷‑压深曲线,而不能直接获取被测材料的测量硬度和弹性模量值。因此,本发明的目的在于使载荷‑位移曲线转化为载荷‑压深曲线后能够依靠AFM纳米压痕获取的原始载荷‑位移曲线,完成硬度和弹性模量值高效、精准的计算,从而为AFM纳米压痕的使用者们提供便利条件。
技术领域
本发明涉及材料性能研究技术领域,尤其涉及一种基于AFM纳米压痕实验获取硬度和弹性模量测量值的方法。
背景技术
随着人们在微/纳米领域的不断探索,对检测设备提出了更高的要求,原子力显微镜(atomicforcemicroscopes简称AFM)以其优异的性能脱颖而出。原子力显微镜作为一种实用的超精密检测设备,不仅可以获取样品真正的三维形貌信息,而且AFM纳米压痕可以自由选择压痕区域,并及时对压痕区域进行成像,因此AFM在纳米压痕领域得到了越来越多的应用。AFM纳米压痕可用于测量材料的硬度和弹性模量等表面力学特性。但是在AFM设备在完成纳米压痕后仅能将采集到的数据由载荷-位移转化为载荷-压深曲线,而不能直接获取被测材料的测量硬度和弹性模量值。事实上,关于力曲线的转化以及通过编程快速计算纳米压痕测试结果的方法,已有学者进行了研究,史立秋通过AFM外带的SAM设定PSD(位置探测器)偏转电压控制探针压入,同时以外接的数据采集卡采集压电扫描陶管在Z方向上的电压变化值,直接绘出了载荷随压入深度的变化曲线,之后利用程序对实验数据进行处理,获取硬度和弹性模量计算值。但并未说明力曲线的转化方法,以及接触零点是如何判定的,并且,其计算硬度和弹性模量时所用的计算模型为O-P模型,这与本发明所用的Hertz模型有很大区别。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于AFM纳米压痕实验获取硬度和弹性模量测量值的方法,为计算大量数据提供了一种便捷的处理方式,给AFM纳米压痕的使用者们提供了便利,极大地提高了计算效率。
本发明采用的技术方案如下:
本发明所提出的基于AFM纳米压痕实验获取硬度和弹性模量测量值的方法,所述方法包括以下步骤:
S1、获取原子力显微镜探针的载荷-位移曲线的加载曲线数据点坐标值(Xnj,Ynj)和卸载曲线数据点坐标值(Xnx,Ynx);
其中,Xnj:载荷-位移曲线中加载曲线的横坐标位移值;
Ynj:载荷-位移曲线中加载曲线的纵坐标压入载荷值;
Xnx:载荷-位移曲线中卸载曲线的横坐标位移值;
Ynx:载荷-位移曲线中卸载曲线的纵坐标压入载荷值;
S2、将所述载荷-位移曲线的加载阶段和卸载阶段的曲线数据点坐标值(Xnj,Ynj)和(Xnx,Ynx)转化为载荷-压深曲线相对应阶段的曲线数据点坐标值(Pnj,Qnj)和(Pnx,Qnx);
其中,Pnj:载荷-压深曲线中加载曲线的横坐标压入深度值;
Qnj:载荷-压深曲线中加载曲线的纵坐标压入载荷值;
Pnx:载荷-压深曲线中卸载曲线的横坐标压入深度值;
Qnx:载荷-压深曲线中卸载曲线的纵坐标压入载荷值;
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