[发明专利]图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法、识别装置

权利要求书

1.一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

循环遍历标注集，获取对应的图像ID；

根据图像ID获取第一标注员标注的第一缺陷标注详情和第二标注员标注的第二缺陷标注详情，其中，所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的缺陷坐标；

将所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，以使第三标注员根据所述第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，并生成第三缺陷标注详情；

获取所述图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情；

将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果；

根据所述第二缺陷标注对比结果获取所述图像缺陷标注模型的标注准确率；其中，将所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，包括：

依次对比所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称是否一致；

如果不一致，则对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成；

如果一致，则分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷坐标和第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交面积；

判断是否所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；

如果所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则备注当前所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”；

如果所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值小于或等于预设值，或者，所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值小于或等于所述预设值，则返回“对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成”步骤；

将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果，包括：

步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标，并分别计算所述第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面积；

步骤S502，判断是否所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；

步骤S503，如果不存在所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷对比完成，则执行步骤S507；如果所有缺陷未对比完成，则返回步骤S501；

步骤S504，如果所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所述第三缺陷标注详情的缺陷名称和所述第四陷标注详情的缺陷名称是否一致；

步骤S505，如果一致，则备注当前标注的缺陷“一致”，并返回步骤S503；

步骤S506，如果不一致，则备注当前标注的缺陷“分类错误”，并返回步骤S503；

步骤S507，遍历所述图像缺陷标注模型标注的所述第四陷标注详情，将未备注的缺陷识备注为“过杀”；

S508，遍历所述第三标注员标注的所述第三缺陷标注详情，将未备注的缺陷识别备注为“漏检”。

2.根据权利要求1所述的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，其特征在于，

分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交面积，包括：

获取所述第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷标注类型；

如果所述第一缺陷标注类型和所述第二缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第一缺陷坐标的第一外接四边形和第二缺陷坐标的第二外接四边形；

基于所述PostGIS计算第一外接四边形的面积、第二外接四边形的面积、第一外接四边形和第二外接四边形的相交面积。