[发明专利]一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统在审
| 申请号: | 202011192111.9 | 申请日: | 2020-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN112345854A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
| 发明(设计)人: | 汤锐;黄腾;李奕恒;尤然;徐高飞;马飞 | 申请(专利权)人: | 北京航天光华电子技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 胡健男 |
| 地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 任意 两点 端口 元器件 测量 测试 系统 | ||
一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统,包括电源部分、控制部分、动作部分、测量测试部分和对外接口;电源部分包括AC/DC电源模块和多路DC/DC隔离电源模块;控制部分包括操作显示模块和控制存储模块,以及隔离、驱动模块;对外接口是相关形式的连接器;动作部分包括测量测试点切换模块和模拟信号切换模块;测量测试部分包括AD采集处理模块和电压及基准模块;本发明通过测量测试点切换模块和模拟信号切换模块的设计,可以根据用户的需求对测量测试点切换模块的规模进行任意扩展,实现任意两点间的两端口元器件自动测量测试功能;测量测试点切换模块的设计实现了由最少的开关实现最多的测量测试点之间的任意切换功能,模拟信号切换模块的设计实现了任意两个测量测试点之间激励信号正、负的切换。
技术领域
本发明涉及一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统,属于电子电气测量测试技术领域。
背景技术
目前,市面上的两端口元器件测量测试系统较为常见,但大部分都只有2个对外测量测试接口,在实际使用这类测量测试系统的时候,需要由人工一直在现场根据测量测试需求不停的将不同的待测点接入到测量测试系统中进行测量测试,并由人工进行相关数据的记录,由此显著增加了操作人员的工作量,使得测量测试效率较低,且由于人工的介入,难以保证测量测试数据的一致性。
同时,市面上也有一部分两端口元器件测量测试系统,尽管具有测量测试数据的自动记录功能,但有限的对外测量测试接口仍然无法摆脱对现场人工的高度依赖。
此外,市面上还有一小部分两端口元器件测量测试系统拥有较多的对外测量测试接口,但不具备任意、便捷扩展的条件,并且操作流程复杂,对操作员的经验、技巧等要求较高,一般人员无法使用此类测量测试系统进行高效、可靠工作,该类测量测试系统仍然无法满足规模越来越大的电子电气系统的高效自动化测量测试需求。
由此设计一款对外测量测试接口可任意、便捷扩展,自动化程度高且操作简单的两端口元器件测量测试系统迫在眉睫。
发明内容
本发明解决的技术问题为:克服上述现有技术的不足,提供一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统,具有在不需要人工长时间在现场介入的条件下,可以自动对电子电气系统中任意两点间的两端口进行测量测试并记录相关数据,从而显著降低人工工作强度,并提高测量测试数据的可靠性和一致性。
本发明解决的技术方案为:一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统,包括电源部分(1)、控制部分(2)、对外接口(3)、动作部分(4)和测量测试部分(5);
电源部分(1)先将交流220V市电引入测量测试系统并转换成直流24V电源,再将直流24V电源转换成测量测试系统所需的隔离的直流3.3V、直流5V电源,为控制部分(2)、动作部分(4)和测量测试部分(5)提供工作电源;电源部分(1)为控制部分(2)、动作部分(4)、测量测试部分(5)分别供电,避免控制部分(2)、动作部分(4)、测量测试部分(5)之间在工作过程中的相互影响,避免控制部分(2)、动作部分(4)、测量测试部分(5)之间由于电源异常引起的故障扩散;
对外接口(3)将被测对象所有的待测量测试点接入到动作部分(4);
控制部分(2)用于存储、显示测量测试系统相关的系统数据和用户数据信息,并在用户对用户数据进行设置后,根据控制部分(2)的相关控制指令,通过控制部分(2)控制测量测试部分(5)输出的激励经过动作部分(4)对外接口(3)连接的待测量测试点选择和切换,施加在对外接口(3)选择的待测量测试点上;动作部分(4)和测量测试部分(5)进行相关的动作(即对对外接口(3)中的测量测试点切换和模拟信号线切换)和激励的施加;
根据控制部分(2)的相关控制指令,动作部分(4)对对外接口(3)选择的待测量测试点的数据的采集、回传,送至测量测试部分(5),进行AD转换、存储,并与测量测试部分(5)预存的基准数据进行对比,得到对比结果。(采集的数据可以为电压)
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