[发明专利]成像透镜

说明书

本发明提供一种具有高分辨率的成像透镜。成像透镜(10)从物体侧依次具有反望远型透镜组(20)和伽利略型透镜组(30)，反望远型透镜组从物体侧依次具有具备凸面朝向物体侧的弯月形状的透镜的第一单元(21)和包含光阑的第二单元(22)，伽利略型透镜组从物体侧依次具有具备正折射力的正透镜单元(31)和具备负折射力的负透镜单元(32)。

技术领域

本发明涉及成像透镜，例如涉及用于使光在CMOS图像传感器的受光部成像的成像透镜。

背景技术

液晶显示器(LCD)、有机EL显示器(OLED)越来越精细。例如，4K显示器具有约800万像素，8K显示器具有约3300万像素。4K/100英寸显示器的1像素的大小约为600μm，8K/100英寸显示器的1像素的大小约为400μm。100英寸显示器的对角线的长度为2540mm，由于在该大小之中难以加工800万个像素，因此必须检查显示屏。

以往，作为检查液晶显示屏、有机EL显示屏的缺陷的装置，已知专利文献1、2公开的检查装置。

在显示屏的缺陷检查装置中例如使用具有1亿2千万像素的区域CMOS图像传感器。这种CMOS图像传感器已被Illunis公司、CIS公司、SVS公司等产品化。CMOS图像传感器的尺寸例如是35.5mmφ，像素尺寸例如是2.2μm×2.2μm。

虽然存在专利文献3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15作为用于使光在图像传感器的受光部成像的成像透镜，但它们均不对应例如35.5mmφ、且像素尺寸例如2.2μm×2.2μm程度的解像力(Resolution)。因此，例如作为使用具有1亿2千万像素的区域CMOS图像传感器的显示屏的缺陷检查装置用的成像透镜，它们均是不充分的。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011－232276号公报

专利文献2：日本特开2007－121243号公报

专利文献3：国际公开第2012/086199号

专利文献4：日本特开2016－062021号公报

专利文献5：日本特开2009－216858号公报

专利文献6：日本特开2017－191159号公报

专利文献7：国际公开第2014/155464号

专利文献8：日本特开2010－107531号公报

专利文献9：日本特开2016－212134号公报

专利文献10：美国专利第03132199号说明书

专利文献11：国际公开第2019/093377号

专利文献12：日本特开2013－195587号公报

专利文献13：日本特开2013－88719号公报

专利文献14：日本特开2013－231941号公报

专利文献15：日本特开2013－083783号公报

发明内容

发明所要解决的问题

具有想要使用例如像素尺寸2.2μm×2.2μm、1亿2千万像素的CMOS图像传感器对4K、8K的显示屏进行检查的要求。但是，以往不存在具有2.2μm的分辨率的成像透镜。

因此，本发明的目的在于提供一种例如在显示屏的检查装置中使用的用于使光在图像传感器的受光部成像的成像透镜，且该成像透镜具有高分辨率。

用于解决问题的方案