[发明专利]X射线设备校正方法、成像方法和成像系统在审

专利信息
申请号: 202011185982.8 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112294349A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 闫晶;陆学飞;冷官冀;崔凯 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 何晓春
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 射线 设备 校正 方法 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种X射线设备校正方法,其特征在于,所述方法应用于X射线设备,所述X射线设备包括相对设置的点阵光源以及探测器,所述点阵光源与探测器之间设置有模体;所述点阵光源包括多个点光源;所述模体包括相互间隔设置的多个几何体;每个所述点光源的射线投影区域至少对应六个所述几何体;所述方法包括:

控制所述点阵光源中多个所述点光源扫描所述模体,得到各个所述点光源对所述模体的投影图像;

根据各所述投影图像,确定各所述投影图像中至少六个所述几何体在图像坐标系下的第一坐标;

获取各几何体在X射线设备坐标系下的第二坐标;

根据所述第一坐标以及第二坐标,计算所述点阵光源中各所述点光源的校正矩阵。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一坐标以及第二坐标,计算所述点阵光源中各所述点光源的校正矩阵包括:

根据所述第一坐标以及第二坐标,确定所述投影图像中各几何体与模体中各几何体之间的对应关系;

根据所述对应关系、第一坐标以及第二坐标,建立方程组;

求解方程组,得到所述点阵光源中各所述点光源的校正矩阵。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,控制所述点阵光源中多个所述点光源逐次扫描所述模体,得到各个所述点光源对所述模体的投影图像包括:

控制所述点阵光源中多个所述点光源,逐个投影射线扫描所述模体,得到各个点光源对应的所述模体的投影图像。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,根据所述第一坐标以及第二坐标,计算所述点阵光源中各所述点光源的校正矩阵包括:

根据每个点光源对应的所述投影图像,获取每个投影图像中各几何体的第一坐标;

根据每个投影图像中各几何体的第一坐标,获取相应投影图像中各几何体在模体中的第二坐标;

根据所述第一坐标和所述第二坐标,计算所述点阵光源各点光源对应的校正矩阵。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

多个所述几何体之间的间隔距离,根据所述点阵光源与所述模体之间的第一距离以及所述点阵光源与所述探测器之间的第二距离设定。

6.一种X射线图像成像方法,其特征在于,所述方法包括:

获取X射线设备对扫描对象扫描得到的原始数据以及多个校正矩阵;多个所述校正矩阵为通过所述权利要求1-5中任一项所述的X射线设备校正方法得到的对应于各点光源的校正矩阵;

根据各所述校正矩阵对所述原始数据进行校正;

根据校正后的所述原始数据进行图像重建,得到医学图像。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述校正矩阵对所述原始数据进行校正包括:所述校正矩阵包括每个点光源对应的校正矩阵;

根据所述原始数据,得到基于每个点光源得到的原始数据;

根据每个点光源对应的校正矩阵分别对每个点光源对应的原始数据进行校正。

8.一种X射线成像系统,其特征在于,所述X射线设备包括相对设置的点阵光源以及探测器,所述点阵光源与探测器之间设置有模体;

所述点阵光源包括多个点光源;

所述模体包括模体本体以及相互间隔设置的多个几何体;多个所述几何体设置在所述模体本体上,且所述模体本体的衰减系数与所述几何体的衰减系数不同;

每个所述点光源的射线投影区域至少对应六个几何体;

所述探测器用于接收所述点阵光源产生的穿过所述模体后的射线。

9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,多个所述几何体在所述模体本体上呈层状分布。

10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,多个所述几何体在所述模体本体上所形成的层状分布至少为两层;两层中对应于各所述点光源的多个所述几何体,在各所述点光源的投影方向上相互之间不重叠。

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