[发明专利]电子设备和电子设备的操作方法在审

专利信息
申请号: 202011184581.0 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN113078887A 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 田弼在 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H03K3/02 分类号: H03K3/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 操作方法
【权利要求书】:

1.一种电子设备,包括:

单位间隔检测器,包括多个延迟单元,并且被配置为接收第一信号、第二信号和第三信号,并从所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号中检测指示单位间隔的代码;

时钟恢复电路,被配置为响应于所述代码,从所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号产生时钟信号;以及

数据恢复电路,被配置为响应于所述代码和所述时钟信号,从所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号产生第一接收信号、第二接收信号和第三接收信号,

其中,所述多个延迟单元的总延迟量小于所述单位间隔的长度,

其中,所述单位间隔检测器被配置为通过使用所述多个延迟单元,执行包括粗略检测和精细检测在内的多级检测操作。

2.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述单位间隔检测器还被配置为:

从所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号产生第四信号,所述第四信号的周期的一半等于所述单位间隔的长度,

响应于所述第四信号,从所述多个延迟单元产生内部时钟信号,所述内部信号的周期比所述第四信号的周期短,以及

当所述第四信号处于高电平时,通过对所述内部时钟信号的切换次数进行计数来执行粗略检测。

3.根据权利要求2所述的电子设备,其中,所述单位间隔检测器还被配置为:

通过在所述第四信号的下降沿处检测所述内部时钟信号的上升沿的位置来执行所述精细检测,或者

通过在所述第四信号的下降沿处检测所述内部时钟信号的下降沿的位置来执行所述精细检测。

4.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述多个延迟单元包括:第一延迟单元,接收所述第四信号;以及所述第一延迟单元的后级的第二延迟单元,以及

其中,所述第一延迟单元的输出通过反相器被反馈给所述第一延迟单元中第一个放置的第一延迟单元。

5.根据权利要求4所述的电子设备,其中,所述第一个放置的第一延迟单元的延迟元件被配置为当所述第四信号处于高电平并且所述反相器的输出处于低电平时输出低电平。

6.根据权利要求1所述的电子设备,其中,每个延迟单元包括三个第一延迟元件,

其中所述单位间隔检测器通过所述粗略检测来检测第一代码,以及

其中,所述单位间隔检测器通过所述精细检测来检测第二代码。

7.根据权利要求6所述的电子设备,其中,所述时钟恢复电路包括第二延迟元件,

其中,所述时钟恢复电路被配置为:

允许所述时钟信号在所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号之一转变的第一时间点转变;以及

在与所述第二延迟元件中的延迟元件的总延迟量相对应的时间段期间保持所述时钟信号的电平,所述第二延迟元件中的延迟元件的数量与第一数量和第二数量的和相对应;

其中,所述第一数量是将所述多个延迟单元中的所述第一延迟元件的数量与所述第一代码的值相乘的结果,以及

其中,所述第二数量是所述第二代码指示的值。

8.根据权利要求7所述的电子设备,其中,所述第二延迟元件的数量大于所述多个延迟单元中的所述第一延迟元件的数量的1/3。

9.根据权利要求6所述的电子设备,其中,所述数据恢复电路包括第二延迟元件,

其中,所述数据恢复电路被配置为:

将所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号延迟多达所述第二延迟元件中的延迟元件的总延迟量,所述第二延迟元件中的延迟元件的数量与第一数量和第二数量的和相对应;以及

与所述时钟信号同步地锁存所述第一信号、所述第二信号和所述第三信号,

其中,所述第一数量是将所述多个延迟单元中的所述第一延迟元件的数量与所述第一代码的值相乘的结果,以及

其中,所述第二数量是所述第二代码指示的值。

10.根据权利要求9所述的电子设备,其中,所述第二延迟元件的数量大于所述多个延迟单元中的所述第一延迟元件的数量的1/3。

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