[发明专利]一种继电器出口回路双光耦自检系统及自检方法

权利要求书

1.一种继电器出口回路双光耦自检系统，其特征在于，继电器的每个出口回路都包含单独的启动回路和动作回路；

所述的动作回路包括节点DZ_KIO、第一动作光耦OP1、第二动作光耦OP2和第一MOS管Q1；

节点DZ_KIO与第一动作光耦OP1的1端子连接，第一动作光耦OP1的2端子接地，第一动作光耦OP1的4端子连接继电器的一出口，第一动作光耦OP1的3端子分别连接第一MOS管Q1的G极和一个二极管的正极；

第一MOS管Q1的D极与第二动作光耦OP2的2端子连接，第二动作光耦OP2的1端子连接第二电源VCC2，第二动作光耦OP2的4端子连接第二电源VCC3，第二动作光耦OP2的3端子连接节点DZ_CHECK；

所述的启动回路包括节点QD_KIO、第一启动光耦OP3、第二启动光耦OP4和第二MOS管Q2；

节点QD_KIO与第一启动光耦OP3的1端子连接，第一启动光耦OP3的2端子接地，第一启动光耦OP3的4端子连接第二电源VCC2，第一启动光耦OP3的3端子连接第二MOS管Q2的G极；

第二MOS管Q2的D极分别连接所述二极管的负极和第二启动光耦OP4的2端子，第二动作光耦OP4的1端子连接第二电源VCC2，第二动作光耦OP4的4端子连接第二电源VCC3，第二动作光耦OP4的3端子用于连接节点QD_CHECK；

由启动回路和动作回路共同导通来驱动继电器的出口回路。

2.根据权利要求1所述的一种继电器出口回路双光耦自检系统，其特征在于，所述的继电器由第一电源VCC1供电。

3.一种继电器出口回路双光耦自检方法，利用权利要求1或2所述继电器出口回路双光耦自检系统进行自检，其特征在于，步骤如下：

首先，进行所有继电器出口的启动回路的短路自检；

检测到异常时，继电器闭锁，并发出“出口X启动光耦短路”告警信号；未检测到异常后进行动作回路的短路自检；

检测到异常时，继电器闭锁，并发出“出口X动作光耦短路”告警信号；在未检测到异常后开始进行启动回路的断路自检；

检测到异常时，继电器发出“出口X启动光耦开路”告警信号，未检测到异常时再进行动作回路的断路自检；

检测到异常时，继电器发出“出口X动作光耦开路”告警信号。

4.根据权利要求3所述的一种继电器出口回路双光耦自检方法，其特征在于，不管短路自检还是断路自检，都是每个出口回路依次进行。

5.根据权利要求3所述的一种继电器出口回路双光耦自检方法，其特征在于，对同一个出口X，启动回路短路自检的过程如下：

当继电器未收到出口X的开出命令时，出口X回路的启动信号不发出，节点QD_KIO为低电平，第一启动光耦OP3不导通，第二MOS管Q2的S极和G极均为低电平，第二MOS管Q2不导通，第二启动光耦OP4也无法导通，节点QD_CHECK为低电平；当节点QD_KIO为低电平，但节点QD_CHECK为高电平，说明启动回路出现短路，继电器发出“出口X启动光耦短路”告警信号。

6.根据权利要求3所述的一种继电器出口回路双光耦自检方法，其特征在于，对同一个出口X，动作回路短路自检的过程如下：

当继电器未收到出口X的开出命令时，出口X回路的动作信号不发出，节点DZ_KIO为低电平，第一动作光耦OP1不导通，第一MOS管Q1的S极和D极均为低电平，Q1不导通，第二动作光耦OP2也无法导通，节点DZ_CHECK为低电平；当节点DZ_KIO为低电平，但节点DZ_CHECK为高电平，说明动作回路出现短路，继电器发出“出口X动作光耦短路”告警信号。