[发明专利]显示装置和其测试方法在审
申请号: | 202011178227.7 | 申请日: | 2020-10-29 |
公开(公告)号: | CN112750874A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 朱成培 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L23/544 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 赵嫦;康泉 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 测试 方法 | ||
本申请公开了显示装置和其测试方法。该显示装置包括:基板,在该基板中限定切口部分;以及第一导电层,该第一导电层设置在基板上并且包括第一信号线和第一测试线,其中第一测试线与切口部分相交,并且第一测试线的一个端部分包括扩展的第一焊盘区域。
本申请要求于2019年10月30日提交的韩国专利申请号10-2019-0136865的优先权以及从其获得的所有权益,其内容以其整体通过引用并入本文。
技术领域
本发明的示例性实施方式涉及显示装置和其测试方法,并且更特别地,涉及能够扩展和收缩的可伸缩显示装置和其测试方法。
背景技术
显示装置的重要性随着多媒体的发展而增加。相应地,正在使用各种类型的显示装置,比如有机发光显示(“OLED”)装置或液晶显示(“LCD”)装置。
最近,对柔性显示装置的需求增加。在柔性显示装置中,能够扩展和收缩的可伸缩显示装置具有广泛的应用范围。可伸缩显示装置可被利用作为意图被拉伸的显示装置,但是也可应用于用于有效的弯曲、折叠和卷曲的其他柔性显示装置、可折叠显示装置和可卷曲显示装置。
发明内容
当显示装置被拉伸时,不仅基板,而且设置在基板上的线可受到应力。可通过切割掉基板的一部分减小基板的应力。在设置在基板上的线的情况下,可通过改变构成材料或图案来释放应力,但是与线的其他部分相比,由于拉伸而导致的应力集中在穿过切口部分的线的部分中,并且在一些情况下线可断开。线的断开导致显示装置的显示缺陷。然而,显示缺陷可由于各种原因发生并且因此仅通过确认显示缺陷难以找到准确原因。另外,显示装置包括用于驱动像素电路的多个晶体管,并且当对应晶体管的特性值不均匀时发生显示缺陷。然而,仅利用显示缺陷可能难以准确地鉴定显示区中的晶体管的哪些位置具有不同的特性值。
本发明的示例性实施方式提供了显示装置,在该显示装置中可容易确认导电层是否断开。
本发明的示例性实施方式还提供了显示装置,在该显示装置中容易确认晶体管的特性值和在显示区中的对应位置。
本发明的示例性实施方式还提供了显示装置的测试方法,其中可容易鉴定导电层是否断开。
应当注意,本发明的特征和优势不限于上述目标,并且本发明的其他特征和优势对于本领域技术人员而言将从下述描述中显而易见。
显示装置的示例性实施方式包括:基板,在该基板中限定切口部分;以及第一导电层,该第一导电层设置在基板上并且包括第一信号线和第一测试线,其中第一测试线与切口部分相交,并且第一测试线的一个端部分包括扩展的第一焊盘区域。
装置的另一示例性实施方式包括:基板,该基板包括显示区,该显示区包括多个像素;设置在基板上的多个像素电路晶体管和测试晶体管;以及像素电极,该像素电极连接至多个像素电路晶体管中的至少一些并且被提供给多个像素中的每一个,其中测试晶体管设置在显示区中,测试晶体管具有与像素电路晶体管的层状结构相同的层状结构,并且进一步包括包含像素电极的材料的接触电极,并且接触电极包括连接至测试晶体管的栅电极的栅接触电极、连接至测试晶体管的第一源/漏电极的第一源/漏接触电极以及连接至测试晶体管的第二源/漏电极的第二源/漏接触电极。
显示装置的测试方法的示例性实施方式,包括:在基板上形成包括第一信号线和第一测试线的第一导电层,在该基板中限定切口部分,使得第一测试线与切口部分相交并且包括包含扩展的第一焊盘区域的一个端部分;以及测量第一测试线的电阻。
在示例性实施方式中,可容易确认导电层是否断开。进一步,可容易确认晶体管的特性值和在显示区中的对应位置。
本发明的示例性实施方式中的效果不受上面例举的内容限制,并且在说明书中包括更多的各种效果。
附图说明
本发明的上面和其他示例性实施方式和特征将通过参考所附附图详细地描述示例性实施方式而变得更显而易见,其中:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的