[发明专利]一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法

权利要求书

1.一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

1）对ADC比较器的翻转进行仿真分析，得出翻转区间偏移；

2）计算所述翻转区间偏移分布在ADC计数器的一个时钟周期内的概率和跨越多个时钟周期的概率，并计算由此而引起的CMOS图像传感器噪声电压；

步骤2）中计算由此而引起的CMOS图像传感器噪声电压，具体为：

式中：F为第F帧图像；Voi为像元的第i次输出；Vo为像元的F次输出的平均值；

3）将所述CMOS图像传感器噪声电压和对应的概率加权平均，得到由ADC固有噪声引起的CMOS图像传感器噪声的计算值。

2.根据权利要求1所述的用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，其特征在于，步骤1）中根据CMOS图像传感器噪声定义，采用CMOS图像传感器噪声统计方法对ADC比较器的翻转进行仿真分析。

3.根据权利要求1所述的用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，其特征在于，在步骤2）中，若所述翻转区间偏移分布在ADC计数器的一个时钟周期内，则不引起噪声。

4.一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

1）确定ADC量化的1LSB对应的模拟电压值和1LSB所对应的时间跨度；

2）加入器件噪声模型，对ADC的翻转进行仿真，得到ADC翻转区间偏移；

步骤2）中计算ADC翻转区间偏移在1LSB时间时钟周期内的概率，确定无噪声的概率；

3）确定产生噪声的概率，计算ADC翻转区间偏移跨越多个LSB的概率，确定产生噪声的概率，计算产生所述噪声对应的噪声电压；

4）将噪声概率和噪声电压值相乘，得到单点噪声；

将所有单点噪声相加，得到由ADC固有噪声引起的CMOS图像传感器噪声的计算值。

5.根据权利要求4所述的用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，其特征在于，步骤1）中根据ADC转换的模拟信号，确定ADC量化的1LSB对应的模拟电压值。

6.根据权利要求4所述的用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，其特征在于，步骤1）中根据ADC计数器工作的频率，确定1LSB所对应的时间跨度。