[发明专利]一种总线信号时序测试装置及应用方法

说明书

本发明提供一种总线信号时序测试装置及应用方法，所述装置包括ARM单元、信号输入单元、LCD显示/控制单元和供电单元；供电单元分别与ARM单元、信号输入单元、LCD显示/控制单元相连，用于将外部直流电压转换为测试装置所需直流电压，为各单元提供稳定的工作电源；信号输入单元与ARM单元相连，用于连接被测板卡I2C总线信号并将连接的被测板卡I2C总线信号转换为数字信号传递至ARM单元进行数据采样；LCD显示/控制单元与ARM单元相连，用于将ARM单元的采样波形、参数状态进行实时显示。可以用于I2C总线测试，而且可以用于SMBus、PMBus总线测试。

技术领域

本发明涉及总线时序测试技术领域，具体涉及一种总线信号时序测试装置及应用方法。

背景技术

众所周知，I2C(包括SMBus、PMBus)总线是交换机/服务器中应用最为广泛的一种低速信号总线，尤其是在交换机设计中，I2C不仅用于交换机温度、电压监控，也用于光模块信息获取，因此，I2C总线信号是否可靠，对于交换机整机系统稳定运行至关重要。

当前交换机/服务器研发设计过程中，对于I2C总线的测试主要包含两部分：读写测试和时序测试。读写测试一般使用脚本对I2C器件进行长时间的数据读写操作，验证读写过程中是否存在数据异常；时序测试一般使用示波器，抓取I2C数据读写过程中某一帧数据信号，观察其上升/下降时间等是否满足I2C时序规范，显然，仅对一帧/几帧信号进行量测，并不能保证I2C信号在长时间运行中均能满足时序规范，因此，亟需一种能够对I2C总线时序信号进行长时间测试的方法。

当前时序测试一般使用示波器，抓取I2C数据读写过程中某一帧数据信号，观察其上升/下降时间等是否满足I2C时序规范，显然，仅对一帧/几帧信号进行量测，并不能保证I2C信号在长时间运行中均能满足时序规范。

发明内容

针对当前时序测试一般使用示波器，抓取I2C数据读写过程中某一帧数据信号，观察其上升/下降时间等是否满足I2C时序规范，显然，仅对一帧/几帧信号进行量测，并不能保证I2C信号在长时间运行中均能满足时序规范的问题，本发明提供一种总线信号时序测试装置及应用方法。

本发明的技术方案是：

第一方面，本发明技术方案提供一种总线信号时序测试装置，包括ARM单元、信号输入单元、LCD显示/控制单元和供电单元；

供电单元分别与ARM单元、信号输入单元、LCD显示/控制单元相连，用于将外部直流电压转换为测试装置所需直流电压，为各单元提供稳定的工作电源；

信号输入单元与ARM单元相连，用于连接被测板卡总线信号并将连接的被测板卡总线信号转换为数字信号传递至ARM单元进行数据采样；

LCD显示/控制单元与ARM单元相连，用于将ARM单元的采样波形、参数状态进行实时显示；还用于通过对LCD显示/控制单元操作，实现操作人员对测试装置的参数配置、状态查询功能。

ARM单元分别与信号输入单元、LCD显示/控制单元相连，用于实现整个测试装置的数据采样、逻辑控制及数据显示功能。

优选地，该装置还包括Flash单元；Flash单元与供电单元连接；

ARM单元，用于获取被测板卡总线信号时序状态；

Flash单元与ARM单元相连，用于存储ARM单元获取的总线信号时序状态。总线信号时序状态包括上升时间、下降时间、输入高电平、输入低电平等。

优选地，该装置还包括RTC单元；

RTC单元与ARM单元相连，用于为ARM单元提供精准的实时时钟，保证Flash单元存储的测试时间信息足够精确。

优选地，ARM单元包括数据获取代码模块、数据处理代码模块和输出控制代码模块；