[发明专利]晶闸管过零检测电路以及检测方法在审
申请号: | 202011138186.9 | 申请日: | 2020-10-22 |
公开(公告)号: | CN112305298A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 王鸿雁;陶军 | 申请(专利权)人: | 上海熹源电气有限公司 |
主分类号: | G01R19/175 | 分类号: | G01R19/175 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷 |
地址: | 201313 上海市浦东新区万*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶闸管 检测 电路 以及 方法 | ||
1.一种晶闸管过零检测电路,其特征在于,包括晶闸管、集成运算放大器、电阻以及二极管,所述集成运算放大器的同相输入端的电位为电阻分压晶闸管两端电压,当所述晶闸管两端电压小于1V时,所述二极管不导通,所述集成运算放大器的同相输入端的电压为所述晶闸管两端过零电压信号和符号信号。
2.如权利要求1所述的晶闸管过零检测电路,其中所述晶闸管过零检测电路设置有第一二极管、第二二极管以及第三二极管,当所述晶闸管两端电压小于1V时,所述第二二极管以及所述第三二极管不导通。
3.如权利要求2所述的晶闸管过零检测电路,其中当所述晶闸管两端电压高于预设值时,通过所述第一二极管、所述第二二极管以及所述第三二极管钳位所述集成运算放大器的同相输入端的电压,防止所述晶闸管两端电压过大而烧坏所述集成运算放大器。
4.如权利要求3所述的晶闸管过零检测电路,其中所述晶闸管过零检测电路设置有第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻以及第七电阻,所述集成运算放大器的同相输入端的电位为所述第二电阻的电阻值/所述第一电阻的电阻值、所述第二电阻的电阻值以及所述第七电阻的电阻值之和,分压晶闸管两端电压。
5.如权利要求4所述的晶闸管过零检测电路,其中所述集成运算放大器的同相输入端设置有所述第一电阻以及所述第二电阻。
6.如权利要求5所述的晶闸管过零检测电路,其中所述集成运算放大器的同相输入端和晶闸管电容端电压之间设置有所述第一电阻以及所述第七电阻。
7.如权利要求6所述的晶闸管过零检测电路,其中所述集成运算放大器的同相输入端设置有所述第一电阻以及所述第二电阻。
8.如权利要求7所述的晶闸管过零检测电路,其中所述集成运算放大器的输入端设置有所述第五电阻,所述集成运算放大器的同相输入端和所述第二二极管之间设置有所述第二电阻。
9.如权利要求8所述的晶闸管过零检测电路,其中所述晶闸管过零检测电路设置有第一滤波电容、第二滤波电容以及第三滤波电容,所述集成运算放大器的输出端和所述第二滤波电容之间设置有所述第五电阻。
10.一种晶闸管过零检测电路的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
晶闸管电容端电压和晶闸管市电电源端电压接晶闸管两端电压,集成运放放大器的同相输入端电位分压晶闸管两端电压;
当晶闸管两端电压小于1V时,晶闸管过零检测电路中的两个二极管不导通;以及
通过集成运放放大器的同相输入端的电压检测电压过零信号和符号信号。
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