[发明专利]智能电表校验方法、装置、智能电表及存储介质

说明书

本发明公开了一种智能电表校验方法，根据智能电表的当前程序通过完整性检查模块ICM程序计算得到的第一校验码；获取当前所述智能电表预先存储的第二校验码，所述第二校验码是根据ICM程序计算得到的；根据所述第一校验码与所述第二校验码以对所述智能电表进行校验。本发明还公开了一种智能电表校验装置、智能电表及存储介质。本发明旨在提升智能电表的校验有效性及校验效率。

技术领域

本发明涉及智能电表领域，尤其涉及一种智能电表校验方法、装置、智能电表及存储介质。

背景技术

随着电表的智能化，目前使用的智能电表均采用代码控制，而在现场运行过程中智能电表中的程序代码存在被篡改的风险，其中，如果修改计量部分代码，此时电能表还能正常运行，但同时会给用户或国家造成不可估量的经济损失，因此需要对智能电表进行校验。目前，一般采用循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check，CRC)，并将校验码保存在带电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable read only memory，EEPROM)里面，但由于智能电表的程序代码是保存在外部闪速存储器(flash)里面，而每次智能电表升级都会擦除掉内部flash，并将外部flash拷贝到内部flash，因此通过现有采用的智能电表的校验方式，根本无法获取智能电表被纂改的记录，从而也检测不到智能电表被篡改的信息。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种智能电表校验方法、装置、智能电表及存储介质，旨在解决如何防止智能电表被篡改的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种智能电表校验方法，所述方法包括以下步骤：

根据智能电表的当前程序通过完整性检查模块ICM程序计算得到第一校验码；

获取当前所述智能电表预先存储的第二校验码，所述第二校验码是根据ICM程序计算得到的；

根据所述第一校验码与所述第二校验码以对所述智能电表进行校验。

可选地，所述根据所述第一校验码与所述第二校验码以对所述智能电表进行校验的步骤，包括：

判断所述第一校验码与所述第二校验码是否相同；

若是所述第一校验码与所述第二校验码相同，则判定所述智能电表校验成功；

否则，则判定所述智能电表校验失败。

可选地，所述根据智能电表的当前程序通过完整性检查模块ICM程序计算得到第一校验码的步骤之前，包括：

若是接收到用户发起的升级请求，则控制智能电表进行升级；

根据所述智能电表升级后的程序通过ICM程序计算得到所述智能电表升级后的第二校验码。

可选地，所述控制智能电表进行升级的步骤，包括：

下载升级程序包；

校验所述升级程序包；

校验后置上标识flag；

根据启动程序判断所述标识flag是否存在；

若存在，则启动智能电表程序升级。

可选地，所述根据所述智能电表升级后的程序通过ICM程序计算得到所述智能电表升级后的第二校验码的步骤，包括：

将外部闪速存储器flash中的程序写入微控制单元MCU内部flash中；

根据所述MCU内部flash中升级后的程序通过所述ICM程序计算得到所述智能电表升级后的第二校验码。