[发明专利]利用荧光复合材料进行荧光测量温度的方法

权利要求书

1.利用荧光复合材料进行荧光测量温度的方法，其特征在于，将荧光复合材料与待测目标接触，用光源照射，然后用检测器接收荧光复合材料所发射出荧光的波长，根据标准曲线计算，得到温度数值；

所述荧光复合材料为含有Yb³⁺的复合材料；

所述标准曲线是以荧光复合材料的荧光发射光谱中波长范围在900～990nm的荧光发射峰积分面积与波长范围在990～1150nm范围的荧光发射峰积分面积的比值的对数值与温度的倒数呈现的线性关系作为温度测量的标准曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准曲线根据式(Ⅰ)或其等效数学变换式(Ⅱ)进行计算：

ln(I_900～990/I_990～1150)＝A×(1/T)+C 式(Ⅰ)

ln(I_900～990)-ln(I_990～1150)＝A×(1/T)+C 式(Ⅱ)

其中，T代表温度，I_900～990为复合材料中Yb³⁺发射光谱波长在900～990nm范围的荧光发射峰积分峰面积，I_990～1150为波长在990～1150nm范围的荧光发射峰积分峰面积；A、C均为常数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述荧光复合材料为在光源激发下发出Yb³⁺特征荧光的Yb(III)无机化合物、Yb(III)离子配合物或Yb(III)有机配合物，或Yb(III)无机化合物、Yb(III)离子配合物、Yb(III)有机配合物中的一种与基质材料组成的复合材料，且Yb(III)无机化合物、Yb(III)离子配合物或Yb(III)有机配合物与基质材料的质量比为1：0.1～10000。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述荧光复合材料为无机化合物NaYbF₄，或有机稀土配合物K[Yb(Az)₄]，或有机稀土配合物K[Yb(Az)₄]包埋于基质材料苯乙烯-甲基丙烯酸甲酯共聚物而成的复合材料。