[发明专利]连接状态检测电路、方法及显示面板

说明书

本申请公开了一种连接状态检测电路、方法及显示面板，涉及显示器技术领域，所述检测电路包括：检测电源，与所述第一节点连接；测量单元，与所述第一节点连接，用于在所述检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值，根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。在第一节点和第二节点之间连接或未连接发光单元以及接触是否良好的情况下，测量单元检测到的第一节点的测量电压值不同，因此，通过分析该测量电压值，能够确定第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态，从而能够避免使用光致发光技术测量该发光单元连接状态时对发光单元的尺寸限定。

技术领域

本申请涉及显示器技术领域，更具体地，涉及一种连接状态检测电路、方法及显示面板。

背景技术

目前，对发光芯片中发光单元的连接状态的检测，大多采用光致发光技术，使用紫外光对发光芯片照射，发光芯片的对比度和波长差异可以通过设备收集并分析,从而在后续的数据分析中，可以确定芯片的发光单元的连接状态。但是，该光致发光技术要求芯片尺寸不能过小，否则，无法识别该连接状态。

发明内容

本申请提出了一种连接状态检测电路、方法及显示面板，以改善上述缺陷。

第一方面，本申请实施例提供了一种连接状态检测电路，应用于发光电路，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号；所述检测电路包括：检测电源，与所述第一节点连接；测量单元，与所述第一节点连接，用于在所述检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值，根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。

第二方面，本申请实施例还提供了一种显示面板，包括发光电路和上述连接状态检测电路，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号。

第三方面，本申请实施例还提供了一种连接状态检测方法，应用于显示面板的发光电路的检测，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号，所述方法包括：在检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值；根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。

本申请提供的连接状态检测电路、方法及显示面板，应用于发光电路，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号；所述检测电路包括检测电源和测量单元，检测电源和测量单元均与第一节点连接，在检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，由于第一节点和第二节点之间在连接发光单元的时候，该发光单元会对第一节点的检测电压信号分压，因此，在第一节点和第二节点之间连接或未连接发光单元以及接触是否良好的情况下，测量单元检测到的第一节点的测量电压值不同，因此，通过分析该测量电压值，能够确定第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态，从而能够避免使用光致发光技术测量该发光单元连接状态时对发光单元的尺寸限定。

本申请实施例的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请实施例而了解。本申请实施例的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请一实施例提供的发光电路的示意图；

图2示出了本申请另一实施例提供的发光电路的示意图；