[发明专利]一种钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置在审

专利信息
申请号: 202011111961.1 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN112285285A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 周琪 申请(专利权)人: 周琪
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00
代理公司: 北京恒泰铭睿知识产权代理有限公司 11642 代理人: 何平
地址: 465332 河南省*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 钕铁硼 磁体 表面 裂纹 缺陷 检测 装置
【说明书】:

发明涉及钕铁硼磁体技术领域,且公开了一种钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置,包括支撑轴,所述支撑轴的侧面设置有驱动齿轮,所述驱动齿轮的上部设置有齿轮一,所述支撑轴的上部设置有转台,所述转台的内表面设置有齿环,所述转台的下部设置有传动齿轮,所述传动齿轮的侧面设置有支架,所述转台的表面设置有检测座,该钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置,通过驱动齿轮与齿轮一和齿轮二的配合使用,齿轮一与齿环的配合使用,转台与检测座的配合使用,齿轮二与转轴的配合使用,转盘与支杆的配合使用,可连续性对钕铁硼磁体的表面进行图像采集检测,提高了钕铁硼磁体表面图像采集的效率,有利于提高钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测的效率。

技术领域

本发明涉及钕铁硼磁体技术领域,具体为一种钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置。

背景技术

钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测的方式,是通过对其表面进行图像采集,然后通过模板进行匹配定位分析,在对钕铁硼磁体的表面进行检测时,需要多次图像采集,然后对图像中的灰度平均值进行计算对比分析,但现有钕铁硼磁体在进行图像采集检测时,需要工作人员手动对钕铁硼磁体进行角度调节,然后进行图像采集,这种采集方式效率不高,影响钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测的效率,在对钕铁硼磁体的表面进行图像采集时,每次转动采集的角度均不统一,图像采集效果不好,影响钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测的效果。

为解决以上问题,我们提出了一种钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置,具备了钕铁硼磁体表面图像采集效率高,图像采集效果好,钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测效率高,检测效果好的优点,有利于提高钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测的质量和钕铁硼磁体的生产质量。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本发明提供了一种钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置,具备钕铁硼磁体表面图像采集效率高,图像采集效果好,钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测效率高,检测效果好的优点,解决了现有钕铁硼磁体表面图像采集效率低,图像采集效果不好,钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测效率不高,检测效果不好的问题。

(二)技术方案

为实现上述钕铁硼磁体表面图像采集效率高,图像采集效果好,钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测效率高,检测效果好的目的,本发明提供如下技术方案:一种钕铁硼磁体表面裂纹缺陷检测装置,包括支撑轴,所述支撑轴的侧面设置有驱动齿轮,所述驱动齿轮的上部设置有齿轮一,所述支撑轴的上部设置有转台,所述转台的内表面设置有齿环,所述转台的下部设置有传动齿轮,所述传动齿轮的侧面设置有支架,所述转台的表面设置有检测座,所述驱动齿轮的上部设置有齿轮二,所述齿轮二的表面设置有主齿轮,所述主齿轮的内部设置有转轴,所述转轴的表面设置有转盘,所述转盘的表面设置有支杆,所述支杆远离转盘的一端设置有检测设备,所述支杆的表面设置有驱动弹簧。

优选的,所述驱动齿轮与齿轮一和齿轮二采用同轴设计。

优选的,所述齿轮一采用半齿轮设计,与齿环的表面相适配。

优选的,所述传动齿轮均匀分布在转台的下表面,与检测座采用同轴设计。

优选的,所述支架与支撑轴之间为固定连接,与传动齿轮对应的内表面设计有扇形齿面,与传动齿轮相适配。

优选的,所述齿轮二采用半齿面设计,与主齿轮相适配。

优选的,所述转盘的表面开设有均匀的滑槽,与支杆之间为活动连接。

优选的,所述支杆均匀分布在转盘的表面,支杆由两个连杆组成,两个连杆之间为活动连接,靠近转盘一端的连杆位于转盘表面滑槽的内部。

优选的,所述检测设备与检测座的位置相对应,驱动弹簧位于支杆内部远离转盘一端连杆的下表面。

(三)有益效果

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