[发明专利]一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置

权利要求书

1.一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置，包括打磨平台(1)，其特征在于：所述打磨平台(1)底部活动连接有支撑座(2)，所述支撑座(2)底部活动连接有复位弹簧(3)，所述支撑座(2)顶部活动连接有夹持杆(4)，所述夹持杆(4)顶部活动连接有推块(5)，所述推块(5)左侧活动连接有复位架(7)，所述推块(5)顶部活动连接有夹持板(6)，所述支撑座(2)左右两侧均活动连接有传动杆(21)，所述传动杆(21)顶部活动连接有活动块(8)，所述活动块(8)右侧活动连接有转向块(9)，所述转向块(9)右侧活动连接有挤压弹簧(10)，所述挤压弹簧(10)右侧活动连接有缓冲块(11)，所述缓冲块(11)右侧活动连接有储液腔(12)，所述传动杆(21)底部活动连接有检验座(13)，所述检验座(13)底部活动连接有检验弹簧(14)，所述检验弹簧(14)底部活动连接有连接座(15)，所述连接座(15)底部活动连接有压敏电阻(20)，所述连接座(15)内部活动连接有封光块(17)，所述封光块(17)顶部活动连接有检验杆(16)，所述封光块(17)右侧活动连接有光敏电阻(18)，所述光敏电阻(18)顶部活动连接有导线(19)。

2.根据权利要求1所述的一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置，其特征在于：所述光敏电阻(18)通过导线(19)与压敏电阻(20)、外部电源形成闭合回路。

3.根据权利要求1所述的一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置，其特征在于：所述活动块(8)与转向块(9)滑动连接，且活动块(8)与转向块(9)的接触面为斜面。

4.根据权利要求1所述的一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置，其特征在于：所述连接座(15)内部活动连接有可发出特定波长光线的光源。

5.根据权利要求1所述的一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置，其特征在于：所述光敏电阻(18)外部活动连接有遮光层，遮光层靠近连接座(15)的一端开设有进光槽，且该进光槽的形状大小与封光块(17)的形状大小一致。

6.根据权利要求1所述的一种利用光敏电阻的机械表带自动打磨检验辅助装置，其特征在于：所述封光块(17)与连接座(15)滑动连接，且封光块(17)的中心轴线与连接座(15)的中心轴线处于同一直线。