[发明专利]一种高阻膜测试系统及其测试方法

说明书

本发明涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置。本发明的有益之处在于：能够通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对高阻膜的硬度、厚度、透光效果、电阻值及附着力进行测试，降低人力投入，提高测试效率；除此之外，通过上卸料装置对高阻膜进行统一上卸料，保证检测过程的连续性，降低漏检几率，提高检测的准确性，并且降低整体空间占用。

技术领域

本发明涉及高阻膜测试领域，尤其涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法。

背景技术

In-Cell抗干扰高阻镀膜，是在液晶显示器的液晶像素中镀上一层抗干扰防静电的高电阻膜层，膜层电阻达到10^8欧姆，是一种既具有防触控信号干扰又具有防静电的功能薄膜。In-Cell：是将触控感应线路搭载于显示面板内部，在薄膜晶体管阵列基板与彩色滤光片之间形成的盒内部嵌入触摸传感器功能，能有效减少光学胶等多种材料的使用，增加透光性的同时减少显示器件的厚度。在镀膜结束后需要对镀膜的产品进行检测，现有技术都是通过人工手动进行检测，检测效率低，存在漏检风险。

发明内容

为了克服现有技术中的至少部分缺陷，本发明实施例提供了一种高阻膜测试系统及其测试方法，其能够快速完成对镀膜产品的检测。

本发明提供的技术方案如下：一种高阻膜测试系统，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置，其中：

所述硬度测量装置，用于对高阻膜的硬度进行检测，并将其与预设的硬度值进行对比，得出测试结果；

所述厚度测量装置，用于对高阻膜的厚度进行检测，并将其与预设的厚度值进行对比，得出测试结果；

所述亮度测量装置，用于对高阻膜的透光效果进行检测，并将其与预设的透光率进行对比，得出测试结果；

所述电阻测量装置，用于对高阻膜的电阻进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；

所述附着力测量装置，用于对高阻膜的附着力进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；

所述上卸料装置，用于将待检测的高阻模转移到硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置的检测工位上，所述上卸料装置还用于将检测合格或不合格的产品移出检测工位；

所述控制装置与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置信号连接，用于对上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置进行控制。

进一步地，所述上卸料装置包括转动盘和沿所述转动盘的圆周方向设置的若干个机械手，在所述转动盘上开设有检测凹槽和废品槽，所述机械手用于将所述高阻膜放置到所述检测凹槽、所述检测工位或所述废品槽中，所述上卸料装置还包括驱动所述转动盘转动的伺服电机，所述伺服电机与所述控制装置信号连接。

进一步地，所述硬度测量装置包括硬度测试台和设置在所述硬度测试台上的硬度测试仪，所述硬度测试台包括可调节高度的支撑杆和连接在所述支撑杆上的支撑台面，所述支撑台面上开设有限位槽，所述硬度测试仪的底面位于所述限位槽中。

进一步地，所述厚度测量装置包括基准台面和设置在所述基准台面一侧的厚度检测机构，所述厚度检测机构为膜厚台阶机。

进一步地，所述亮度测量装置包括光源和检测透过所述高阻膜后的光线的亮度的亮度检测装置，所述高阻膜设置在所述光源和所述亮度检测装置之间。