[发明专利]一种基于X,Y双测点频谱数据的三重并发故障分析方法有效

专利信息
申请号: 202011109276.5 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN112232414B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 荆晓远;王许辉;陈润航;张清华;成明康;姚永芳;孔晓辉 申请(专利权)人: 广东石油化工学院
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06T7/00
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 杨采良
地址: 525000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 双测点 频谱 数据 三重 并发 故障 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种基于X,Y双测点频谱数据的三重并发故障分析方法,其特征在于,所述基于X,Y双测点频谱数据的三重并发故障分析方法包括:

利用多测点采集设备对设备进行采集,并对采集的数据进行稀疏化处理;

对稀疏化处理的各测点的数据进行小波层次分解特征和波形特征进行融合;具体包括:

1)对稀疏化处理的数据进行小波包2层分解变换,得到不同尺度下的小波系数,将信号HH层的尺度系数置零;

2)计算无量纲特征波性指标Sf;公式为:

其中表示波形数据均方根值,表示波形数据绝对平均;

3)计算无量纲特征峰值指标,公式如下:

其中xmax表示波形峰值,表示表示均方根值;

4)计算无量纲特征脉冲指标,公式如下:

其中xmax表示波形峰值,表示波形数据绝对平均;

5)计算无量纲特征峭度指标,计算公式如下:

其中

6)计算无量纲特征裕度指标,计算公式如下:

其中

7)计算无量纲特征Teager能量算子,计算公式如下:

其中,t表示数据采集时间,αt为t时刻前后的偏移角;

8)计算标准偏差,计算公式如下:

9)计算平均值的标准偏差,计算公式如下:

10)计算样本的样本圆均值,计算公式如下:

其中X为样本,

S=∑isin(angle)C=∑icos(angle),

res=arctan2(S,C);

11)将对各测点的数据进行小波层次分解特征和波形特征进行拼接;

使用深度多视图对两个测点的DCCA网络进行特征同步处理,进行一致性特征融合,并利用端到端的多视图分类器进行处理;

对未知标签转子不平衡信号进行预测,并确定故障类型。

2.如权利要求1所述基于X,Y双测点频谱数据的三重并发故障分析方法,其特征在于,所述利用多测点采集设备对设备进行采集,并对采集的数据进行稀疏化处理包括:

(1)在两个探测点安装采集设备,通过安装的采集设备以32/rms采集得到大型滑动机组振动双视图信号;

(2)对得到的两个视图分别进行离散傅里叶变换。

3.如权利要求2所述基于X,Y双测点频谱数据的三重并发故障分析方法,其特征在于,步骤(2)中,所述离散傅里叶变换窗口大小32*32=1024个点,根据信号情况设置自适应阈值;

公式如下:

其中n=0,…,N-1,N表示数据长度。

4.一种实施权利要求1-3任意一项所述基于X,Y双测点频谱数据的三重并发故障分析方法的大机化设备。

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