[发明专利]预测存储器件寿命的方法、装置、终端设备和存储介质

说明书

本申请适用于存储设备技术领域，提供了一种预测存储器件寿命的方法、装置、终端设备和存储介质。该预测存储器件寿命的方法包括：当检测到对存储器件的任一数据块执行数据处理操作时，采集所述数据处理操作的属性参数，所述数据处理操作包括数据写入操作和数据擦除操作；根据所述属性参数计算所述数据块的误码率及预期写入/擦除次数；若所述误码率超过第一阈值；或若所述误码率未超过所述第一阈值且所述预期写入/擦除次数超过第二阈值，则确定所述存储器件到达寿命终点。本申请通过计算数据块的误码率判断存储器件的寿命是否到达终点，能够提高对存储器件寿命预测的准确性，提高存储器件的利用率。

技术领域

本申请属于存储设备技术领域，尤其涉及一种预测存储器件寿命的方法、装置、终端设备和存储介质。

背景技术

采用非易失性存储介质(Not AND Flash)颗粒作为存储介质的存储器件因高速、环境适应能力强和低噪音等优点，广泛应用于诸多领域。但这类存储器件的寿命也因非易失性存储介质而受到写入/擦除次数(Program/Erase cycle，简写为P/E cycle)的限制，一旦存储器件到达寿命终点，其存储的数据会丢失或者不可用，因此有必对其寿命进行预测，以便于提前迁移或备份数据。

目前，存储器件生产厂商一般采用非易失性存储介质的写/擦次数来表示存储器件的寿命，当非易失性存储介质的写/擦次数到达了极限值，则判定该存储器件到达寿命终点。然而，由于生产厂商的技术水平参差不齐，该方法的预测结果并不可靠，容易导致存储器件不能物尽其用或者过度使用。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种预测存储器件寿命的方法、装置、终端设备和存储介质，提高对存储器件寿命预测的准确性，提高存储器件的利用率。

第一方面，本申请实施例提供了一种预测存储器件寿命的方法，包括：

当检测到对存储器件的任一数据块执行数据处理操作时，采集所述数据处理操作的属性参数，所述数据处理操作包括数据写入操作和数据擦除操作；

根据所述属性参数计算所述数据块的误码率及预期写入/擦除次数；

若所述误码率超过第一阈值；

或

若所述误码率未超过所述第一阈值且所述预期写入/擦除次数超过第二阈值，则确定所述存储器件到达寿命终点。

本申请实施例通过计算数据块的误码率及预期写入/擦除次数来衡量存储器件的寿命，当计算出来的数据块误码率大于第一阈值或者虽然误码率小于第一阈值，但是预期写入/擦除次数超过了第二阈值(即数据块所留有的可写入/擦除的次数不足)时，则说明该存储器件达到寿命终点。通过该方法可以更加精确的预测存储器件是否达到寿命终点，能够提高存储器件的可靠性及其利用率。

进一步的，当检测到对存储器件的任一数据块执行数据处理操作时，采集所述数据块执行数据处理操作的属性参数，包括：

获取所述数据块当前的写入/擦除次数；

根据所述数据块当前的写入/擦除次数和所述存储器件的擦写次数标称值，确定是否采集当前执行的数据处理操作的属性参数；

所述根据所述属性参数计算所述数据块的误码率及预期写入/擦除次数，包括：

若采集当前执行的数据处理操作的属性参数，则用当前采集的属性参数对上一次采集到的所述数据块执行数据处理操作的属性参数进行更新，并根据数据块当前的属性参数计算所述数据块的误码率及预期写入/擦除次数。