[发明专利]一种双激励的高精度绝对阻抗测量方法

权利要求书

1.一种双激励的高精度绝对阻抗测量方法，包括由单片机内部的DAC模块输出幅值不同、相位相差180°的正弦激励信号Asinωt、-Bsinωt，使激励信号的幅值A0、B0，A+B＝Const，Const为常数，再通过运放的同向跟随后，加载到由被测电阻Rx与标准电阻R串联电路的两端，被测电阻Rx与标准电阻R的中间结点输出电压通过同向一级放大k₁倍，输出电压A_msinωt，再通过反向二级放大k₂倍，输出电压A_Osinωt，正激励信号Asinωt及输出电压A_msinωt和A_Osinωt分别送入单片机内部进行AD转换及信号处理，得到被测阻抗Rx的大小，其特征在于，在测量被测阻抗Rx的大小前，需根据以下步骤调整激励信号A和B的幅值：

步骤1.根据所述被测电阻Rx的原始标定值为R₀计算激励信号A和B的理想幅值，B＝Const-A，Rx＝R₀；

步骤2.根据步骤1得到的激励信号A和B的理想幅值，计算激励信号A和B幅值的上限：A_上和B_上，下限：A_下和B_下，

B_上＝Const-A_下，B_下＝Const-A_上，所述单片机采用参考电压进行ADC转换，参考电压为2Asa，Asa为假设饱和幅值，k＝k₁*k₂0；

步骤3.计算当被测电阻Rx相对原始标定值为R₀降低时，激励信号A和B的幅值应调整为A_N＝A_上，B_N＝B_下，对应的Rx的测量量程为

计算当被测电阻Rx相对原始标定值为R₀升高时，激励信号A和B的幅值应调整为A_N＝A_下，B_N＝B_上，对应的Rx的测量量程为

步骤4.根据被测电阻Rx相对原始标定值的变化方向，按步骤3对应调整激励信号A和B的幅值生成正弦激励信号A_Nsinωt、-B_Nsinωt并加载到由被测电阻Rx与标准电阻R串联电路的两端，经同向一级放大和反向二级放大后输出电压的幅值为A_O，单片机计算得到被测电阻Rx为

2.根据权利要求1所述的双激励的高精度绝对阻抗测量方法，其特征在于，若步骤4经同向一级放大和反向二级放大后输出电压的幅值A_OAsa，则单片机根据同向一级放大后输出点电压的幅值A_m和正弦激励信号Asinωt调整前的幅值A，按下式计算激励信号A和B的幅值调整值A_Nx、B_Nx：

B_Nx＝Const-A_Nx，

调整激励信号A和B的幅值为A_Nx、B_Nx，生成新的相应正弦激励信号后，加载到被测电阻Rx与标准电阻R串联电路的两端，得到新的电压A_O，按照步骤4单片机计算得到被测电阻Rx为