[发明专利]设备控制方法及装置在审
| 申请号: | 202011093386.7 | 申请日: | 2020-10-13 |
| 公开(公告)号: | CN112346363A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
| 发明(设计)人: | 张衡;邓杰;史海洋;朱孟庆;余飞;周健 | 申请(专利权)人: | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号: | G05B19/04 | 分类号: | G05B19/04 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 赵婷 |
| 地址: | 100086 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 设备 控制 方法 装置 | ||
本公开提供了一种设备控制方法,本方法包括:获取用于对目标设备进行测试的至少一组测试运行参数;确定所述目标设备针对各所述测试运行参数的测试运行效率;建立所述测试运行参数与所述测试运行效率间的关联数学模型;获取所述目标设备的实际运行参数;根据所述关联数学模型,确定所述目标设备针对所述实际运行参数的实际运行效率;根据所述实际运行效率,进行针对所述目标设备的效率优化操作。本公开还提供了一种设备控制装置、一种电子设备及一种计算机可读存储介质。
技术领域
本公开涉及控制技术领域,更具体地,涉及一种设备控制方法、一种设备控制装置、一种电子设备以及一种计算机可读存储介质。
背景技术
设备的高效运行对保障生产安全、提升企业利润和实现节能降耗而言有着重要意义。
在实现本发明公开构思过程中,发明人发现在出厂测试过程中会确定设备在最高运行效率下的参考运行参数,然后利用参考运行参数指导设备在日后运行过程中的参数设置。
然而,由于设备在运行过程中累计产生损耗,并且设备的实际运行环境可能与测试环境不同,因此,设备在参考运行参数下的运行效率可能不佳,这将对设备的运行效率及运行成本造成影响,甚至可能会对设备的运行安全性和运行整体效果造成损害。
发明内容
有鉴于此,本公开提供了一种设备运行效率高、运行效果良好的设备控制方法及装置。
本公开的一个方面提供了一种设备控制方法,包括获取用于对目标设备进行测试的至少一组测试运行参数;确定上述目标设备针对各上述测试运行参数的测试运行效率;建立上述测试运行参数与上述测试运行效率间的关联数学模型;获取上述目标设备的实际运行参数;根据上述关联数学模型,确定上述目标设备针对上述实际运行参数的实际运行效率;根据上述实际运行效率,进行针对上述目标设备的效率优化操作。
可选地,上述获取用于对目标设备进行测试的至少一组测试运行参数,包括获取上述目标设备针对至少一个测试转速中的各测试转速的以下至少一个参数:流量参数、扬程参数和输出功率参数。
可选地,上述建立上述测试运行参数与上述测试运行效率间的关联数学模型,包括建立上述测试运行参数与上述测试运行效率间的关联曲线;其中,上述关联曲线指示至少一个运行效率区间。
可选地,上述根据上述关联数学模型,确定上述目标设备针对上述实际运行参数的实际运行效率,包括根据上述关联曲线,确定上述目标设备的上述实际运行效率是否位于预设运行效率区间内。
可选地,上述根据上述实际运行效率,进行针对上述目标设备的效率优化操作,包括当上述实际运行效率未位于上述预设运行效率区间内时,调节上述目标设备的运行转速;和/或,调节上述目标设备的阀门开度。
可选地,上述根据上述实际运行效率,进行针对上述目标设备的效率优化操作,包括将与上述预设运行效率区间关联的测试运行参数,作为目标运行参数;将上述目标设备的上述实际运行参数调整为上述目标运行参数。
可选地,上述方法还包括确定上述目标设备针对上述预设运行效率区间的运行时间与总运行时间的占比;当上述占比低于预设阈值时,进行针对上述目标设备的效率优化操作。
本公开的另一个方面提供了一种设备控制装置,包括第一获取模块,用于获取用于对目标设备进行测试的至少一组测试运行参数;第一处理模块,用于确定上述目标设备针对各上述测试运行参数的测试运行效率;第二处理模块,用于建立上述测试运行参数与上述测试运行效率间的关联数学模型;第二获取模块,用于获取上述目标设备的实际运行参数;第三处理模块,用于根据上述关联数学模型,确定上述目标设备针对上述实际运行参数的实际运行效率;第四处理模块,用于根据上述实际运行效率,进行针对上述目标设备的效率优化操作。
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