[发明专利]显示设备及计算设备

权利要求书

1.一种显示设备，包括：

显示装置，所述显示装置包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；

其中，在第一姿态下，所述第三部分的显示侧表面满足下列条件的至少一个：

最大高度差不超过1mm；

最大坡度变化值不超过0.3；

其中，所述第一姿态下，所述显示装置满足平面条件。

2.根据权利要求1所述的显示设备，所述第三部分的显示侧表面满足的条件包括：

所述第三部分的显示侧表面内具有多个采样点，所述采样点中最高点和最低点的空间位置参数用于确定所述最大高度差，所有采样点的空间位置参数用于确定所述最大坡度变化值；

或，所述第三部分的显示侧表面内具有多个采样点集合，所述采样点集合具有多个采样点；同一所述采样点集合中，所述采样点满足共线条件，所述采样点中最高点和最低点的空间位置参数用于确定所述最大高度差，所有采样点的空间位置参数用于确定所述最大坡度变化值；

或，所述第三部分的显示侧具有多个采样点集合，所述采样点集合具有多个采样点；同一所述采样点集合中，所述采样点位于相邻的一个凸起区域和一个凹陷区域，所述采样点中最高点和最低点的空间位置参数用于确定所述最大高度差，所有采样点的空间位置参数用于确定所述最大坡度变化值。

3.根据权利要求2所述的显示设备，如果同一所述采样点集合中，所述采样点满足共线条件，同一所述采样点集合中的采样点对应同一扫描线，每条所述扫描线中所述采样点的空间位置参数用于确定所述扫描线的最大采样高度差和最大采样坡度变化值；

其中，所述最大高度差为多个所述最大采样高度差的最大值，所述最大坡度变化值为多个所述最大采样坡度变化值的最大值。

4.根据权利要求3所述显示设备，所述空间位置参数包括：第一位置参数和第二位置参数，所述第一位置参数能够表征所述采样点在第一坐标轴X上的位置坐标，所述第二位置参数能够表征所述采样点在第二坐标轴Y上的位置坐标，所述第一坐标轴X与所述第二坐标轴Y满足垂直条件；在所述第一姿态下，所述第一坐标轴X与所述显示侧表面满足平行条件，且与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件，所述第二坐标轴Y与所述显示侧表面满足垂直条件；所述扫描线与所述第一坐标轴X满足平行条件；

同一所述扫描线中，最大采样高度差为最高点与最低点在所述第二坐标轴Y上的位置坐标的差值；

所述扫描线中具有N个所述采样点，N为大于1的正整数，在所述扫描线延伸方向上，该N个所述采样点依次为第1采样点至第N采样点；其中，第K+1采样点至第N-K采样点中，每个采样点用于确定一个采样坡度变化值，K为设定常数，K为不小于0且小于N的整数，N不小于2K+1；第i-K采样点P_i-K的空间位置参数为(x_i-K，y_i-K)，第i采样点P_i的空间位置参数为(x_i，y_i)，第i+K采样点P_i+K的空间位置参数为(x_i+K，y_i+K)，第i采样点对应的采样坡度变化值为：

5.根据权利要求1所述的显示设备，所述最大高度差不超过0.25mm；所述最大坡度变化值不超过0.03。

6.根据权利要求1所述的显示设备，所述显示设备具有固定组件，所述固定组件与所述显示装置连接，用于固定所述显示装置；在所述第一姿态下，所述固定组件用于向所述第一部分施加远离所述第二部分的外力和/或向所述第二部分施加远离所述第一部分的外力。