[发明专利]晶体管引脚检测辅助装置

说明书

本发明提供晶体管引脚检测辅助装置，涉及晶体管技术领域，包括底板，底板顶部的左侧开设有滑轨，滑轨设置有两个，底板的顶部开设有暗槽，底板的顶部设置有调节机构，调节机构包括固定管，固定管的底部与暗槽的底部固定连接，固定管的内表面固定连接有第一弹簧。通过在封装晶体管引脚成型检测装置的内部增加了可以对检测箱上下移动的调节机构，当引脚本体需要进行检测的时候，可以根据引脚本体的大小调节检测箱的位置高度，向下拉动检测箱，联动杆在固定管的内部向下移动，两个支撑板沿着滑轨向两边移动，降低了整个检测箱的位置高度，配合对引脚本体的测量，提高了装置对晶体管引脚检测的准确性。

技术领域

本发明涉及晶体管技术领域，尤其涉及晶体管引脚检测辅助装置。

背景技术

晶体管是一种固体半导体器件(包括二极管、三极管、场效应管、晶闸管等，有时特指双极型器件)，具有检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制等多种功能。晶体管作为一种可变电流开关，能够基于输入电压控制输出电流。与普通机械开关不同，晶体管利用电信号来控制自身的开合，所以开关速度可以非常快，实验室中的切换速度可达100GHz以上。

现在的针对晶体管引脚成型进行检测的装置，通常是将引脚与相同大小的模具进行比对，普通装置在针对体积较大、厚度不一的引脚进行检测，由于固定位置与检测板会出现落差，导致检测方与固定方难以很好的配合进行检测，影响检测的准确性，紧接着需要人工进行检测，人工对晶体管引脚进行检测也比较麻烦。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，通过在晶体管的内部增加了可以对检测装置调节不同高度的调节机构，可以使得检测方始终与晶体管引脚保持同一水平上进行检测，提高了装置检测的准确性。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：晶体管引脚检测辅助装置，包括底板，所述底板顶部的左侧开设有滑轨，所述滑轨设置有两个，所述底板的顶部开设有暗槽，所述底板的顶部设置有调节机构。

所述调节机构包括固定管，所述固定管的底部与暗槽的底部固定连接，所述固定管的内表面固定连接有第一弹簧，所述固定管的内表面滑动连接有联动杆，所述联动杆的底部与第一弹簧的顶部固定连接，两个所述滑轨的内表面通过滑动块滑动连接有支撑板，两个所述支撑板的顶部通过转轴转动连接有固定圈，所述固定圈的内表面固定连接有检测箱，所述检测箱的底部与联动杆的顶部固定连接，所述检测箱的右侧开设有窗口，所述检测箱的内表面滑动连接有检测板，所述检测板的外表面开设有检测槽。

优选的，所述底板的右侧开设有滑动槽，所述滑动槽的内表面滑动连接有竖杆。

优选的，所述竖杆外表面的两侧分别开设有两个通槽，两个所述通槽的内表面均固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧的另一端固定连接有滑动杆。

优选的，所述滑动杆的左端固定连接有夹杆，所述夹杆设置有两个，两个所述夹杆相对的一侧均固定连接有固定框。

优选的，两个所述固定框的外表面活动连接有引脚本体，所述引脚本体的左侧与检测槽的内表面滑动连接。

优选的，所述夹杆的右端与通槽的内表面滑动连接，所述竖杆的外表面与底板的外表面滑动连接。

与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于，

1、本发明中，通过在封装晶体管引脚成型检测装置的内部增加了可以对检测箱上下移动的调节机构，当引脚本体需要进行检测的时候，可以根据引脚本体的大小调节检测箱的位置高度，向下拉动检测箱，联动杆在固定管的内部向下移动，两个支撑板沿着滑轨向两边移动，降低了整个检测箱的位置高度，配合对引脚本体的测量，提高了装置对晶体管引脚检测的准确性。

2、本发明中，通过在底板的右侧开设有滑动槽，可以带动整个对引脚本体固定的装置进行左右移动，避免了工作人员手动将引脚本体进行检测可能会出现对引脚本体造成损坏，提高了产品的生产质量。