[发明专利]一种用于半成品电子产品的自动测试系统

权利要求书

1.一种用于半成品电子产品的自动测试系统，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的顶部固定安装有支撑杆（2），所述支撑杆（2）上滑动连接有顶板（3），顶板（3）的底部固定安装有第一电机（4），第一电机（4）的输出轴与支撑杆（2）传动连接，所述顶板（3）的底部固定安装有测试装置，所述底座（1）的顶部开设有两个对称设置的滑动槽（7），两个滑动槽（7）内转动连接有同一个第一转杆（9），所述底座（1）的一侧固定安装有第二电机（8），第二电机（8）的输出轴与第一转杆（9）固定连接，所述滑动槽（7）内滑动连接有移动座（10），移动座（10）的底部固定安装有固定板（11），固定板（11）的顶部固定安装有推板（12），推板（12）的一侧滑动连接有楔形压板（17），所述底座（1）的顶部固定安装有两个固定座，两个固定座上转动连接有同一个第一转轴（18），第一转轴（18）与两个固定板（11）活动连接，所述底座（1）的顶部固定安装有放置台（22），放置台（22）的顶部开设有两个对称设置的移动槽（23），两个移动槽（23）内转动连接有同一个第二转轴（24），第二转轴（24）与第一转轴（18）传动连接，两个移动槽（23）内转动连接有同一个第二转杆（30），第二转杆（30）的一端固定安装有手柄（37），所述第二转轴（24）上螺纹连接有两个对称设置的连接座（27），连接座（27）的顶部固定安装有定位板（28），定位板（28）上滑动连接有顶杆（29），两个顶杆（29）相互靠近的一端均固定安装有夹板（36），所述第二转杆（30）与两个顶杆（29）传动连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，所述固定板（11）上开设有活动孔（19），活动孔（19）与对应的第一转轴（18）活动连接，且第一转轴（18）上开设有两个对称设置的螺纹槽（20），活动孔（19）的内壁上固定安装有定位块（21），定位块（21）与对应的螺纹槽（20）滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，两个推板（12）相互靠近的一侧均开设有缓冲槽（13），缓冲槽（13）的内壁上固定安装有滑杆（14），滑杆（14）上滑动连接有连接块（15），连接块（15）的顶部固定安装有支撑弹簧（16），支撑弹簧（16）的顶端与缓冲槽（13）的顶部内壁固定连接，且连接块（15）与对应的楔形压板（17）固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，所述滑动槽（7）的一侧内壁上开设有转动槽（39），转动槽（39）的内壁上固定安装有轴承（40）的外圈，轴承（40）的内圈与第一转杆（9）固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，所述放置台（22）上开设有转动腔（38），第一转轴（18）上固定套设有蜗杆（25），第二转轴（24）上固定套设有蜗轮（26），蜗杆（25）与蜗轮（26）相互啮合，蜗杆（25）与蜗轮（26）均位于转动腔（38）内。

6.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，所述第二转杆（30）上滑动套设有第一皮带轮（31），第一皮带轮（31）与连接座（27）转动连接，顶杆（29）的外侧螺纹套设有第二皮带轮（32），第二皮带轮（32）与定位板（28）转动连接，且第一皮带轮（31）与对应的第二皮带轮（32）上传动连接有同一个皮带（33）。

7.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，所述定位板（28）的一侧开设有环形滑槽（34），环形滑槽（34）内滑动连接有两个对称设置的连接杆（35），两个连接杆（35）与对应的第二皮带轮（32）固定连接。

8.根据权利要求1所述的一种用于半成品电子产品的自动测试系统，其特征在于，所述环形滑槽（34）的两侧内壁上均开设有定位槽，定位槽内滑动连接有定位销，定位销与对应的连接杆（35）固定连接。