[发明专利]状态检测电路及控制检测方法

说明书

本发明公开了一种状态检测电路及控制检测方法，状态检测电路包括：IO接口电路，计数电路，逻辑电路；IO接口电路主要用于在不同的计数状态打开不同数量的开关，并随着计数的增加，在条件满足时，关闭计数器，输出此时的计数状态；计数电路主要用于产生从0……00到1……11的计数；逻辑电路包括解码电路和逻辑转换电路，所述解码电路根据计数器的计数状态，输出不同的开关控制信号；所述逻辑转换电路根据计数器的计数状态，转换成不同的内部状态控制信号。本发明的技术方案通过简单的时序控制和电压检测相结合的方式，实现了多种不同外接方式的状态检测，省去了比较器的应用，缩小了芯片的面积。

技术领域

本发明属于集成电路设计技术领域，涉及一种状态检测电路及控制检测方法。

背景技术

在电子产品中，随着集成化的高度发展，芯片设计希望在同一管脚上通过一些简单的方式来实现不同的控制方式，例如在管脚上接不同阻值的电阻，直接接地，浮空，直接接电源等。传统的检测方式中检测电路面积较大，越来越不适合于集成电路设计的发展需求。

传统控制模式如图1所示，通过外接不同的电阻改变内部电阻节点的分压值，芯片对该节点电压值进行判断，不同的电压值对应不同的工作模式。

内部电路实现如图2所示，通过IO口外部直接接地，接不同电阻到地，悬空，接不同电阻到电源，直接接电源等多种不同的外部连接方式，可实现内部多种不同模式的选择。这种检测方式优点是设计结构简单，不需要复杂的时序设计；缺点是IO口需要较多的比较器对不同接法的电压进行比较，耗费了大量的面积资源：每种状态都单独需要一个个比较器，而比较器面积相对较大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种状态检测电路及控制检测方法，至少可以实现多种不同外接方式的状态检测，减少芯片的面积。

根据本发明的第一方面，提供一种状态检测电路，包括：

IO接口电路，计数电路，逻辑电路；

IO接口电路主要用于在不同的计数状态打开不同数量的开关，并随着计数的增加，在条件满足时，关闭计数电路，输出此时的计数状态；

计数电路主要用于产生从0……00到1……11的计数；

逻辑电路包括解码电路和逻辑转换电路，所述解码电路根据计数电路的计数状态，输出不同的开关控制信号；所述逻辑转换电路根据计数电路的计数状态，转换成不同的内部状态控制信号。

可选的，所述IO接口电路包括m个开关，m个电流源，比较器和非门，一个开关和一个电流源串联后，每个开关皆连接至IO口，比较器的正输入端也连接至IO口，负输入端接内部基准电压VREF，输出端接非门的输入端并连接至逻辑电路；随着计数的增加，打开的电流源变多，在IO口外接固定电阻到地的时候，IO端的电压会逐渐增大，当大于内部基准电压VREF的时候，关闭计数电路，输出此时的计数状态。

可选的，所述IO接口电路包括m个开关，m个不同电流值的电流源，比较器和非门，一个开关和一个电流源串联后，每个开关皆连接至IO口，比较器的正输入端也连接至IO口，负输入端接内部基准电压VREF，输出端接非门的输入端并连接至逻辑电路；随着计数的增加，逐次打开对应次序的开关，则对应的电流源接通，关闭其他开关，在IO口外接固定电阻到地的时候，IO端的电压会逐渐增大，当大于内部基准电压VREF的时候，关闭计数电路，输出此时的计数状态。