[发明专利]一种时钟发生电路以及展频测试系统

说明书

本申请公开了一种时钟发生电路以及展频测试系统。时钟发生电路，包括：时钟发生器；存储有操作系统文件的存储器；与存储器以及时钟发生器分别连接的处理器，用于根据存储器中的操作系统文件运行操作系统，并将操作系统产生的展频参数写入至时钟发生器，以控制时钟发生器依照展频参数输出时钟信号。基于本申请提供的时钟发生电路，可通过利用处理器中运行的操作系统对时钟发生器设置展频参数，实现对于时钟发生器产生的时钟信号的频率控制，在测试不同展频范围的抗电磁干扰效果时，无需反复焊接参数配置电阻与时钟发生器，进而相对确保了展频测试的整体效率。此外，本申请还提供一种展频测试系统，有益效果同上所述。

技术领域

本申请涉及展频测试领域，特别是涉及一种时钟发生电路以及展频测试系统。

背景技术

电磁干扰(EMI)是指电磁波与电子元件作用后而产生的干扰现象，是由辐射电磁场或者感应电压和电流产生的。如何减少电磁干扰，是各种电子设备面临的挑战，而当前高速数字系统中的时钟频率也会导致电磁干扰的问题。

为了确保电子设备的可靠性，当前往往需要对电子设备进行时钟展频以降低电子设备的电磁干扰，因此时钟的展频范围需要通过测试的方式得到，当前测试过程中，时钟发生器的所产生的时钟频率受其上焊接的参数配置电阻的焊接位置影响，因此在测试不同展频范围的抗电磁干扰效果时，均需要重新焊接参数配置电阻与时钟发生器，因此难以确保展频测试的整体效率。

由此可见，提供一种时钟发生电路，以相对确保展频测试的整体效率，是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种时钟发生电路以及展频测试系统，以相对确保展频测试的整体效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种时钟发生电路，包括：

时钟发生器；

存储有操作系统文件的存储器；

与存储器以及时钟发生器分别连接的处理器，用于根据存储器中的操作系统文件运行操作系统，并将操作系统产生的展频参数写入至时钟发生器，以控制时钟发生器依照展频参数输出时钟信号。

优选地，处理器与时钟发生器基于I2C总线连接。

优选地，电路还包括：

与处理器连接的显示器，用于显示操作系统的运行界面。

优选地，电路还包括：

与处理器连接的键盘，用于向操作系统输入展频参数。

优选地，存储器包括FLASH存储器。

优选地，处理器包括CPU处理器。

优选地，CPU处理器的型号包括LS3A4000。

优选地，时钟发生器的型号包括6P41505。

优选地，处理器与时钟发生器之间连接有时钟线，用于向处理器传输时钟发生器输出的时钟信号。

此外，本申请还提供一种展频测试系统，包括：

如上述的时钟发生电路；

与时钟发生电路连接的待测功能电路，用于响应时钟发生电路产生的时钟信号以进行展频测试。