[发明专利]一种基于真空热试验的航天器表面热流非接触测量方法有效

专利信息
申请号: 202011078420.3 申请日: 2020-10-10
公开(公告)号: CN112213137B 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 孙玉玮;林博颖;李日华;赵欣;周宇鹏;肖福根;杨晓媛 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 郭栋梁
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 真空 试验 航天器 表面 热流 接触 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于真空热试验的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,所述非接触测量方法包括如下步骤:

步骤S1,根据真空热试验要求将航天器被测表面划分成若干被加热分区;

步骤S2,根据航天器被测表面、真空热试验的外热流模拟装置的位置关系及热流模拟参数,通过Matlab软件计算热流在不同尺寸的被加热分区的分布,再根据每个被加热分区的热流分布,进行积分计算,计算每个被加热分区的积分平均热流位置;

步骤S3,根据所述积分平均热流位置、航天器被测表面特性及热流模拟参数,在航天器被测表面选取热流计的布置数量和测量位置;

步骤S4,在外热流模拟装置上安装支架,支架一端活动连接于所述外热流模拟装置,另一端安装热流计,使热流计位于选取的航天器被测表面测量位置处;

步骤S5,在支架上安装热流计,所述热流计与被测表面具有预设空间距离,并对支架进行微调完成热流计安装;

步骤S6,通过安装完成的热流计,对真空热试验中航天器被测表面的热流进行测量,并根据每个热流计所测量的热流计算平均热流及平均温度,以平均热流及平均温度的均方根值作为测量结果。

2.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,

所述真空热试验采用红外加热阵作为加热源;

采用Matlab软件计算时,输入红外加热阵尺寸、被加热表面尺寸、红外加热阵与被加热表面距离,积分平均热流位置在加热分区中心向半径以外扩展的3/4处。

3.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,步骤S3中,每个被加热分区的有效热流计布置数量为2~4个,且均匀分布在积分平均热流位置处。

4.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,步骤S4中所述支架与被测表面间具有预设微调距离,且所述预设微调距离为20mm或50mm。

5.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,步骤S5热流计与被测表面间的预设空间距离d不大于20mm。

6.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,所述步骤S6中平均热流及平均温度的计算过程如下:

由于热流Q=εσAT4,n个有效热流计的平均值为:

换算后的温度平均值为:

式(3)中,Q为热流计的热流值,ε为热流计敏感面的发射率,σ为玻尔兹曼常数,A为热流计表面积,T为热流计敏感面温度。

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