[发明专利]一种基于真空热试验的航天器表面热流非接触测量方法有效
| 申请号: | 202011078420.3 | 申请日: | 2020-10-10 |
| 公开(公告)号: | CN112213137B | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
| 发明(设计)人: | 孙玉玮;林博颖;李日华;赵欣;周宇鹏;肖福根;杨晓媛 | 申请(专利权)人: | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00 |
| 代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
| 地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 真空 试验 航天器 表面 热流 接触 测量方法 | ||
1.一种基于真空热试验的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,所述非接触测量方法包括如下步骤:
步骤S1,根据真空热试验要求将航天器被测表面划分成若干被加热分区;
步骤S2,根据航天器被测表面、真空热试验的外热流模拟装置的位置关系及热流模拟参数,通过Matlab软件计算热流在不同尺寸的被加热分区的分布,再根据每个被加热分区的热流分布,进行积分计算,计算每个被加热分区的积分平均热流位置;
步骤S3,根据所述积分平均热流位置、航天器被测表面特性及热流模拟参数,在航天器被测表面选取热流计的布置数量和测量位置;
步骤S4,在外热流模拟装置上安装支架,支架一端活动连接于所述外热流模拟装置,另一端安装热流计,使热流计位于选取的航天器被测表面测量位置处;
步骤S5,在支架上安装热流计,所述热流计与被测表面具有预设空间距离,并对支架进行微调完成热流计安装;
步骤S6,通过安装完成的热流计,对真空热试验中航天器被测表面的热流进行测量,并根据每个热流计所测量的热流计算平均热流及平均温度,以平均热流及平均温度的均方根值作为测量结果。
2.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,
所述真空热试验采用红外加热阵作为加热源;
采用Matlab软件计算时,输入红外加热阵尺寸、被加热表面尺寸、红外加热阵与被加热表面距离,积分平均热流位置在加热分区中心向半径以外扩展的3/4处。
3.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,步骤S3中,每个被加热分区的有效热流计布置数量为2~4个,且均匀分布在积分平均热流位置处。
4.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,步骤S4中所述支架与被测表面间具有预设微调距离,且所述预设微调距离为20mm或50mm。
5.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,步骤S5热流计与被测表面间的预设空间距离d不大于20mm。
6.根据权利要求1所述的航天器表面热流非接触测量方法,其特征在于,所述步骤S6中平均热流及平均温度的计算过程如下:
由于热流Q=εσAT4,n个有效热流计的平均值为:
换算后的温度平均值为:
式(3)中,Q为热流计的热流值,ε为热流计敏感面的发射率,σ为玻尔兹曼常数,A为热流计表面积,T为热流计敏感面温度。
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