[发明专利]电磁继电器

说明书

本发明公开一种电磁继电器，包括电磁系统和罩壳组件，罩壳组件包括罩壳和测试开关，罩壳上设有沉槽，测试开关安装在沉槽内并沿沉槽滑动时具有开锁档位、测试档位和闭锁档位，沉槽内设有第一锁定部，测试开关设有与第一锁定部配合的第一锁扣部、与电磁系统的衔铁配合的触动部。测试开关滑动至开锁档位时，测试开关的第一锁扣部与第一锁定部之间锁定使得测试开关的触动部不能与衔铁接触；测试开关滑动至测试档位或闭锁档位时，第一锁定部与第一锁扣部之间解除锁定。本发明的电磁继电器，具有防误触功能，在测试开关位于开锁状态时，第一锁扣部与第一锁定部扣合，防止测试开关下压衔铁导致误动作，提高产品的可靠性。

技术领域

本发明涉及低压电器技术领域，具体涉及一种电磁继电器。

背景技术

现有的电磁继电器及测试开关，一部分继电器采用了掀盖结构的测试开关，但装配结构较复杂，需要两个以上零件构成，且只能锁定与解锁，没有点动测试功能；另一部分继电器采用了滑块开关的结构，具备了点动测试、锁定、解锁功能，但除了仍需要两个以上零件构成，装配复杂、成本较高；当然也有一部分继电器采用一个零件构成了具备了点动测试、锁定、解锁功能的测试开关，但其点动测试结构没有防误触功能，极易因误操作而导致不必要的功能异常。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种具有防误触功能、可靠性高的电磁继电器。

为实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种电磁继电器，包括电磁系统和罩壳组件，所述电磁系统包括衔铁，所述罩壳组件包括罩壳和测试开关，所述罩壳上设有沉槽，所述测试开关安装在沉槽内并沿沉槽滑动时具有开锁档位、测试档位和闭锁档位，所述沉槽内设有第一锁定部，所述测试开关设有与第一锁定部配合的第一锁扣部、与衔铁配合的触动部；

测试开关滑动至开锁档位时，测试开关的第一锁扣部与第一锁定部之间锁定使得测试开关的触动部不能与衔铁接触；测试开关滑动至测试档位或闭锁档位时，第一锁定部与第一锁扣部之间解除锁定。

优选地，所述测试开关包括滑块和弹性片，所述滑块与沉槽的侧壁滑动配合，所述弹性片的一端连接在滑块上，弹性片的另一端为活动端，所述活动端上设有所述触动部和第二锁定部，且所述第二锁定部具有受压斜面，所述沉槽内设有与第二锁定部配合的第二锁扣，所述第二锁扣具有与所述受压斜面配合的按压斜面；

测试开关滑动至闭锁档位时，按压斜面挤压弹性片的受压斜面，使得弹性片的活动端向下移动，活动端上的触动部随之向下按压衔铁，最终第二锁定部与第二锁扣之间锁定。

优选地，所述第二锁定部与触动部之间具有调节间隙。

优选地，所述弹性片的活动端上还设有测试平台，所述测试平台上设有测试凹槽，所述罩壳组件还包括扣板，所述罩壳上设有用于安装扣板的安装槽，所述安装槽连通沉槽与罩壳外，沉槽连通安装槽与罩壳内，所述扣板上设有测试口；测试开关滑动至测试档位时测试凹槽与测试口正对。

优选地，所述开锁档位、测试档位和闭锁档位依次设置；所述第二锁定部和触动部的一端相连接、另一端之间具有调节间隙，形成横置的U形结构；所述测试平台为倒立的L形结构，测试平台的底端连接在所述U形结构的端部上，所述测试平台的顶端向左延伸形成与顶端右部平齐的所述第一锁扣部，所述测试平台和第一锁扣部形成T形结构。

优选地，所述滑块设有位于顶部的推动凸台，所述滑块的侧壁上设有滑动凸起、档位弹片，所述沉槽的侧壁上设有用于支撑测试开关的支撑凸台，沉槽的侧壁上还设有位于支撑凸台上方的扣台、档位凸起，所述滑动凸起卡入支撑凸台与扣台之间并可沿扣台滑动，所述档位弹片上依次设有开锁凹槽、测试凹槽和闭锁凹槽，所述档位凸起与所述开锁凹槽、测试凹槽和闭锁凹槽之间配合形成所述开锁档位、测试档位和闭锁档位。