[发明专利]用于通过内部和外部调试器设备评估内部和外部系统处理器的设备和方法

说明书

本公开的实施例涉及一种用于通过内部和外部调试器设备评估内部和外部系统处理器的设备和方法。一种电子设备，该电子设备具有：可连接到SP的系统处理器(SP)区域；可连接到第一电子设备的主设备区域；以及设置在SP设备区域与主设备区域之间的且可连接到第二电子设备的辅助设备区域。本实施方式进一步包括调试器区域，调试器区域包括调试器单元，并且与主设备区域和辅助设备区域相邻设置。本实施方式还包括：获得调试选择，调试选择包括调试器选择和系统处理器(SP)选择；根据以下的确定进入第一调试模式：调试器选择满足调试器准则并且SP选择满足SP准则；以及根据以下的确定进入第二调试模式：调试器选择满足调试器准则而SP选择不满足SP准则；以及根据以下的确定进入第三调试模式：调试器选择不满足调试器准则。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年10月8日提交的名称为“Scalable architecture formicrocontroller evaluation kits for mass-market ecosystem enablement”的美国临时专利申请No.62/912490号的优先权，出于所有的目的该申请的内容通过整体引用并入本文，并且如同在本文中进行了完全且充分的阐释。

技术领域

本实施方式大体上涉及系统处理器，并且更具体地涉及通过内部和外部调试器设备评估内部和外部系统处理器。

背景技术

传统的微控制器评估套件缺乏足够的能力，导致无法利用内部和外部调试器设备评估系统处理器。传统的微控制器评估套件进一步缺乏足够的能力，导致无法利用调试器设备评估内部和外部系统处理器。因此，需要通过内部和外部调试器设备评估内部和外部系统处理器。

发明内容

本实施方式包括电子设备，该电子设备具有：可连接到SP的系统处理器(SP)区域；可连接到第一电子设备的主设备区域；以及辅助设备区域，该辅助设备区域设置在SP设备区域与主设备区域之间，并且可连接到第二电子设备。本实施方式进一步包括调试器区域，该调试器区域包括调试器单元，并且与主设备区域和辅助设备区域相邻设置。本实施方式还包括：获得调试选择，该调试选择包括调试器选择和系统处理器(SP)选择；根据以下确定进入第一调试模式：调试器选择满足调试器准则和SP选择满足SP准则；以及根据以下确定进入第二调试模式：调试器选择满足调试器准则而SP选择不满足SP准则；以及根据以下确定进入第三调试模式：调试器选择不满足调试器准则。

附图说明

对于本领域的普通技术人员而言，通过以下结合附图对特定实施方式的描述，本实施方式的这些和其他方面将变得清楚。

图1图示了根据本实施方式的示例性系统。

图2图示了根据本实施方式的示例性设备。

图3图示了在示例性第一模式下操作的图2的示例性设备。

图4图示了在示例性第二模式下操作的图2的示例性设备。

图5图示了在示例性第三模式下操作的图2的示例性设备。

图6图示了根据本实施方式的示例性方法。

图7图示了关于图6的示例性方法的进一步的示例性方法。

具体实施方式