[发明专利]面板强度检测方法、面板强度检测装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202011057753.8 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN114359127A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 向枭;李刚;史磊 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06N3/04
代理公司: 北京钲霖知识产权代理有限公司 11722 代理人: 李志新;刘亚平
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 面板 强度 检测 方法 装置 存储 介质
【说明书】:

本公开是关于一种面板强度检测方法、面板强度检测装置及计算机可读存储介质。面板强度检测方法包括:获取面板切割后的截面图像。调用预先训练的强度检测模型,将截面图像输入至强度检测模型,得到面板的强度检测结果。通过本公开提供的面板强度检测方法,可以通过采集的面板的截面图像检测面板的强度,进而加快检测速率的同时,能够避免在检测的过程中损伤面板,从而降低检测成本。

技术领域

本公开涉及终端技术领域,尤其涉及一种面板强度检测方法、面板强度检测装置及计算机可读存储介质。

背景技术

面板是终端屏幕生产中极为重要的部件,面板的强度性能对后续制程工艺以及终端屏幕的强度具有至关重要的影响。强度合格的面板能够在后续制程工艺中或者用户使用的过程中减少破碎或者损坏的发生。

相关技术中,面板的强度检测是采用四点弯折法进行测试。在测量过程中,需要将面板放置在弯曲试验的夹具中,通过改变夹具的弯曲度测试该面板的强度。但是用该方法进行检测,检测过程极为繁琐,进而导致测试效率低。且在检测的过程中,容易对面板造成不可逆的破坏,导致检测成本增高,从而使检测数量有限,无法进行大规模的检测。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种面板强度检测方法、面板强度检测装置及计算机可读存储介质。

根据本公开实施例的第一方面,提供一种面板强度检测方法,包括:获取面板切割后的截面图像。调用预先训练的强度检测模型,将所述截面图像输入至所述强度检测模型,得到所述面板的强度检测结果。

在一实施例中,所述强度检测模型采用下述方式训练得到:分别获取多个面板切割后的截面图像,并基于切割后的截面图像得到多个图像样本。采用四点弯折法,分别确定所述多个面板对应的强度检测结果。对得到的图像样本分别标记对应的强度检测结果,并基于标记了强度检测结果的图像样本,训练得到强度检测模型,所述强度检测模型的输入为截面图像,输出为强度检测结果。

在另一实施例中,所述分别获取多个面板切割后的截面图像,包括:针对具有相同材料的多个面板中的每一面板,分别获取切割后的截面图像。

在又一实施例中,所述基于标记了强度检测结果的图像样本,训练得到强度检测模型,包括:按照第一比例,在所述标记了强度检测结果的图像样本中随机抽取截面图像作为训练样本集。将所述训练样本集输入至卷积神经网络模型进行训练得到初始强度检测模型。将所述标记了强度检测结果的图像样本中,除所述训练样本集以外的其他图像样本作为测试样本集,对所述初始强度检测模型进行验证,得到所述强度检测模型。

根据本公开实施例的第二方面,提供一种所述面板强度检测方法,包括:获取面板切割后的截面图像。对所述截面图像进行图像解析,得到所述截面图像的特征参数。根据所述特征参数,得到所述面板的强度检测结果。

在一实施例中,所述特征参数包括以下至少之一:所述截面图像中所述面板切割后的裂纹分布信息、所述面板切割后崩缺信息或者切割所述面板的刀纹分布信息和裂片效果信息。

在另一实施例中,所述根据所述特征参数,得到所述面板的强度检测结果,包括根据预设对应关系,得到所述特征参数对应的所述强度检测结果,其中,所述预设对应关系用于表征多个预设的特征参数和多个预设的面板的强度检测结果之间的对应关系。

在又一实施例中,所述多个预设的特征参数包括第一特征参数,所述强度检测结果包括第一强度检测结果,通过以下方式确定所述预设对应关系:获取第一面板切割后的截面图像所对应的第一特征参数。采用四点弯折法,确定所述第一面板对应的强度检测结果,作为所述第一强度检测结果。建立所述第一特征参数和所述第一强度检测结果之间的对应关系。

根据本公开实施例的第三方面,提供一种面板强度检测装置,包括:获取单元,用于获取面板切割后的截面图像。检测单元,用于调用预先训练的强度检测模型,将所述截面图像输入至所述强度检测模型,得到所述面板的强度检测结果。

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