[发明专利]积分型像素阵列探测器的刻度方法、装置、介质及设备

权利要求书

1.一种积分型像素阵列探测器的刻度方法，其特征在于，包括：

当积分电路仅接入第一积分电容时，获取在无光照下像素的第一输出失调电压，以及在光照条件下像素的第一光强响应曲线，从而获得第一光强响应曲线的斜率；

当积分电路接入所述第一积分电容和第二积分电容时，获取在无光照下像素的第二输出失调电压，以及在光照条件下像素的第二光强响应曲线，从而获得第二光强响应曲线的斜率；

根据所述第一输出失调电压、所述第二输出失调电压、所述第一光强响应曲线的斜率、所述第二光强响应曲线的斜率确定传感器暗电流在积分电容上累积的电荷量Q_dark；

通过暗电流修调电路从所述积分电路抽取电荷量Q_dark，从而消除传感器暗电流引起的失调。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

当积分电路仅接入所述第一积分电容、所述第二积分电容和第三积分电容时，获取在无光照下像素的第三输出失调电压，以及在光照条件下像素的第三光强响应曲线，从而获得第三光强响应曲线的斜率，根据所述第一输出失调电压、所述第三输出失调电压、所述第一光强响应曲线的斜率、所述第三光强响应曲线的斜率确定传感器暗电流在积分电容上累积的电荷量Q_dark，包括：

根据公式

确定所述传感器暗电流在所述积分电容上累积的所述电荷量Q_dark；

其中，C_int1为第一积分电容值，G₁为所述第一光强响应曲线的斜率，G₃为所述第三光强响应曲线的斜率，V_osp1为所述第一输出失调电压，V_osp3为所述第三输出失调电压。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当积分电路仅接入所述第一积分电容和所述第二积分电容时，根据所述第一输出失调电压、所述第二输出失调电压、所述第一光强响应曲线的斜率、所述第二光强响应曲线的斜率确定传感器暗电流在积分电容上累积的电荷量Q_dark，包括：

根据公式

确定所述传感器暗电流在所述积分电容上累积的所述电荷量Q_dark；

其中，C_int1为第一积分电容值，G₁为所述第一光强响应曲线的斜率，G₂为所述第二光强响应曲线的斜率，V_osp1为所述第一输出失调电压，V_osp2为所述第二输出失调电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述暗电流修调电路包括修调电容C_correct和与所述修调电容C_correct连接的控制开关S₃、S₄，包括：

通过所述暗电流修调电路从所述积分电路抽取电荷量Q_dark，包括：

通过控制开关S₃、S₄，将C_correct左极板分时接通参考电压V_R1与V_R2从所述积分电路抽取电荷，通过控制V_R1-V_R2的值，使得抽取电荷量Q_cali＝Q_dark。