[发明专利]一种标准单元库的指标分析方法及装置

说明书

本申请提供一种标准单元库的指标分析方法及装置。方法包括获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得待分析的标准单元库对应的第一指标特征。本申请实施例通过在设计阶段，根据第一指标特征反映待分析的标准单元库的指标，不需要生产出对应的产品，从而缩短了研发的周期，提高了研发的效率。

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，具体而言，涉及一种标准单元库的指标分析方法及装置。

背景技术

标准单元库是支持数字集成电路设计自动化流程的基础数据之一，标准单元库从前端功能仿真到后端版图实现支撑着整个集成电路自动化设计流程。

在集成电路设计中，在产品的初期研发阶段，需要对新研发的标准单元库的相关指标进行评估，以分析产品在生产出来后可能具备的性能、功耗和面积等情况。现有技术中，往往是在将产品生产出来后，利用测试用例对产品进行测试，从而获得对应的指标。如果指标没有达到预期，则需要重新返回至设计阶段，重新对标准单元库进行设计，直至测试获得生产出的产品的指标符合预期为止。因此，若要获得合格的产品，则至少需要经过设计、生产、测试三个阶段，这将导致研发周期长、研发效率低的问题。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种标准单元库的指标分析方法及装置，用以解决现有技术中研发周期长、研发效率低的问题。

第一方面，本申请实施例提供一种标准单元库的指标分析方法，包括：获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。

本申请实施例通过在设计阶段，根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得待分析的标准单元库对应的第一指标特征，从而根据第一指标特征反映待分析的标准单元库的指标，不需要生产出对应的产品，从而缩短了研发的周期，提高了研发的效率。

进一步地，所述第一属性信息包括标准单元对应的面积；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征。

本申请实施例中，由于集成电路中，面积越小、实现的功能越多表征该集成电路的集成度越高，因此，通过利用标准单元对应的面积以及面积使用率计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标，可以用来反映出待分析的标准单元库的面积占用情况。

进一步地，所述根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：根据公式计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；其中，Area为所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；为第i个标准单元对应的面积；k_i为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n；PA为布局布线后的面积使用率。