[发明专利]一种随钻识别低渗气水层的方法

说明书

本发明公开了一种随钻识别低渗气水层的方法，其步骤为：S1、计算可动含气饱和度；S2、确定地层水的T₂截止值，计算可动水饱和度和束缚水饱和度；S3、计算可动气水比指数；S4、以可动气水比指数为纵坐标，以束缚水饱和度为横坐标，建立解释图版；S5、将待解释层的束缚水饱和度和可动气水比指数投影到解释图版上，根据落点所在的解释区域，进行解释。本发明的方法有效解决了致密气藏的随钻识别难题，而且方法操作简单、成本低廉、解释准确、应用前景广阔。

技术领域

本发明涉及油气层解释评价技术领域，尤其是一种随钻识别低渗气水层的方法。

背景技术

致密气藏具有低孔隙度、低渗透率、低丰度、气水关系复杂等特点，随钻识别主要依靠气测录井技术，由于气测数据受钻井条件的影响较大，且难以识别地层含水性及储层有效性，导致气测解释符合率较低；核磁共振录井技术能够有效识别储层的含水性和有效性，但由于是在地表常温常压条件下进行的测量，气体的含氢分子数较低，核磁共振检测不到含气信号；录井评价人员将饱和样与新鲜样T₂谱之间的幅度差定义为含气区，这种假定缺乏科学依据，因为气体具有较强的可压缩性，即便孔隙里含气，也无从得知含气丰度；因此，在不确定含氢分子数或气体充满度的前提下，就评价出含气饱和度也是不准确的。

发明内容

本发明的目的在于为解决现有技术中气测技术难以识别储层有效性与含水性、核磁共振难以识别储层含气性的不适应性的技术问题，提供了一种随钻识别低渗气水层的方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

一种随钻识别低渗气水层的方法，包括以下步骤：

S1、根据实钻井的气测数据及核磁共振资料，计算可动含气饱和度；

S2、通过对饱和样进行离心或根据试气资料的统计分析，确定地层水的T₂截止值，根据新鲜样的T₂谱，计算可动水饱和度和束缚水饱和度；

S3、根据可动含气饱和度和可动水饱和度，计算可动气水比指数；

S4、以可动气水比指数为纵坐标，以束缚水饱和度为横坐标，将不同试气结论的点投影到(束缚水饱和度,可动气水比指数)的坐标系中，建立解释图版，确定气层、含水气层、气水同层、水层、干层的解释区域；

S5、将待解释层的束缚水饱和度和可动气水比指数投影到步骤S4中建立的解释图版上，根据落点所在的解释区域，进行解释。

进一步地，所述步骤S1的具体过程如下：

S101、收集气测资料，计算解释层全烃曲线的峰基比，所述全烃曲线的峰基比的计算公式为：

式中：TG_p为全烃峰值,TG_b为全烃的基线值；

S102、取岩心中部未受侵染的新鲜样品，立即进行核磁共振T₂测量，得到新鲜样的T₂谱，然后将新鲜样品完全浸泡入接近地层水矿化度的盐水中，充分饱和后进行核磁共振T₂测量，得到饱和样的T₂谱，计算视可动含气饱和度，所述视可动含气饱和度的计算公式为：

式中：A_s为饱和样的T₂谱面积；A_f为新鲜样的T₂谱面积；

S103、根据式(1)和式(2)计算可动含气饱和度，所述可动含气饱和度的计算公式为：

进一步地，在所述步骤S2中，所述可动水饱和度的计算公式为：