[发明专利]一种等光程差处理方法和装置

权利要求书

1.一种等光程差处理方法，应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其特征在于，所述方法包括：

将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内；

采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速；

所述采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值的步骤，包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接的步骤，包括：

将所述第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

将所述第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；其中，所述第二预设长度与所述第一预设长度的差值大于第一长度值；

将所述光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤熔接；

将所述光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与所述第二探测器的两根Q路光纤熔接。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接的步骤，包括：

将所述两根Q路光纤从熔点处断开；

将所述两根Q路光纤均裁减掉所述光程差指示的长度；

将裁剪后的所述两根Q路光纤分别与所述光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

4.一种等光程差处理装置，应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其特征在于，所述等光程差处理装置包括：

第一熔接模块，用于将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

第二熔接模块，用于依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内；

测量模块包括：

第一子模块，用于采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

第二子模块，用于将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速；

所述第一子模块具体用于包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。