[发明专利]用于孔状结构的检测信息呈现方法、检测方法及检测设备在审
申请号: | 202011051590.2 | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN112666078A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 邹嘉骏;林伯聪;黄冠勋;张勋豪 | 申请(专利权)人: | 由田新技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/954 |
代理公司: | 北京维澳专利代理有限公司 11252 | 代理人: | 王立民;曾晨 |
地址: | 中国台湾新北市中*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 结构 检测 信息 呈现 方法 设备 | ||
1.一种用于孔状结构的检测信息呈现方法,其特征在于,包括:
接收一待测物的一检测信息;
根据该检测信息,通过一显示设备显示一待测物影像,其中该待测物具有至少一个孔状结构;
针对该至少一个孔状结构,产生一三维模型信息;以及
根据该检测信息与该三维模型信息,通过该显示设备以显示一三维可视化检测信息。
2.根据权利要求1所述的用于孔状结构的检测信息呈现方法,其特征在于,其中该检测信息包括该孔状结构的上孔径、下孔径、孔深、侧壁斜率、缺陷长度、缺陷高度、瑕疵位置或瑕疵类型。
3.根据权利要求1所述的用于孔状结构的检测信息呈现方法,其特征在于,其中根据该检测信息与该三维模型信息,通过该显示设备以显示该三维可视化检测信息的步骤包括:于该至少一个孔状结构上界定一剖面线,并根据该剖面线产生该三维可视化检测信息的该至少一个孔状结构的剖面视图。
4.根据权利要求1所述的用于孔状结构的检测信息呈现方法,其特征在于,其中根据该检测信息与该三维模型信息,通过该显示设备以显示该三维可视化检测信息的步骤包括:切换该三维可视化检测信息的该至少一个孔状结构的视角。
5.根据权利要求1所述的用于孔状结构的检测信息呈现方法,其特征在于,其中根据该检测信息与该三维模型信息,通过该显示设备以显示该三维可视化检测信息的步骤包括:标示于该三维可视化检测信息上的该至少一个孔状结构的局部部位,从而凸显该至少一个孔状结构的被标示的局部部位。
6.根据权利要求1所述的用于孔状结构的检测信息呈现方法,其特征在于,其中该三维可视化检测信息根据该检测信息、该三维模型信息以及默认待测物信息而生成。
7.一种用于孔状结构的检测方法,其特征在于,包括:
利用一影像捕获设备撷取一待测物,以产生一待测物影像;
利用一检测装置检测该待测物影像,以产生该待测物的一检测信息;
根据该检测信息,通过一显示设备显示该待测物影像,其中该待测物具有至少一个孔状结构;
针对该至少一个孔状结构,产生一三维模型信息;以及
根据该检测信息与该三维模型信息,通过该显示设备以显示一三维可视化检测信息。
8.一种用于孔状结构的检测设备,其特征在于,包括:
一影像捕获设备,影像撷取一待测物,以产生该待测物的影像,其中该待测物具有至少一个孔状结构;
一处理装置,耦合至该影像捕获设备,分析该待测物的影像,以产生该待测物的一检测信息;
一显示设备,耦合至该处理装置,用以显示该待测物的影像与该检测信息;以及
其中该处理装置针对该至少一个孔状结构,产生一三维模型信息;
其中该处理装置根据该检测信息与该三维模型信息,产生一三维可视化检测信息。
9.根据权利要求8所述的用于孔状结构的检测设备,其特征在于,其中该检测信息包括该孔状结构的上孔径、下孔径、孔深、侧壁斜率、缺陷长度、缺陷高度、瑕疵位置或瑕疵类型。
10.根据权利要求8所述的用于孔状结构的检测设备,其特征在于,其中该处理装置包括一剖面工具,用以于该至少一个孔状结构界定一剖面线,并依据该剖面线产生该三维可视化检测信息的该至少一个孔状结构的剖面视图。
11.根据权利要求8所述的用于孔状结构的检测设备,其特征在于,其中该处理装置包括一三维影像调整接口,用以切换该三维可视化检测信息的该至少一个孔状结构的视角。
12.根据权利要求8所述的用于孔状结构的检测设备,其特征在于,其中该处理装置包括一标示工具,用以标示于该三维可视化检测信息上的该至少一个孔状结构的局部部位,从而凸显该至少一个孔状结构的被标示的局部部位。
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