[发明专利]一种同轴型光有源器件的自动耦合对准及封装方法及系统有效
申请号: | 202011049875.2 | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN112505844B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 唐四新;段吉安 | 申请(专利权)人: | 湖南鼎晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42 |
代理公司: | 长沙知行亦创知识产权代理事务所(普通合伙) 43240 | 代理人: | 严理佳 |
地址: | 417500 湖南省娄底市冷水江市沙*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 同轴 有源 器件 自动 耦合 对准 封装 方法 系统 | ||
1.一种同轴型光有源器件的自动耦合对准方法,其特征在于,包括步骤:
S1,通过第一夹具装夹光纤组件,通过第二夹具装夹光源组件;
S2,控制所述第一夹具和所述第二夹具移动到预设位置,以使所述光纤组件与所述光源组件移动到预设的靠近位置以及预设的对准预备角度;其中,所述预设的对准预备角度为根据预设的学习预测算法以及所述同轴型光有源器件的参数信息计算并动态输出的;
S3,对所述光源组件上电,并根据预设的对准算法和光功率检测算法,获取所述光纤组件与所述光源组件的一次耦合对准角度;
S4,控制所述第一夹具和所述第二夹具移动到所述一次耦合对准角度,并根据预设的校验对准算法和校验光功率检测算法,获取所述光纤组件与所述光源组件的二次耦合对准角度;
S5,判断所述二次耦合对准角度与所述一次耦合对准角度之间的偏差值是否大于预设阈值;
S6,在所述偏差值大于预设阈值时,将所述一次耦合对准角度与所述二次耦合对准角度的中值耦合对准角度作为新的所述对准预备角度,并再次执行所述步骤S3-S5;
S7,在所述偏差值不大于所述预设阈值时,确定所述一次耦合对准角度为确定的耦合对准角度。
2.如权利要求1所述的光有源器件的自动耦合对准方法,其特征在于,所述预设的对准算法包括:控制对准装置以预设的螺旋扫描方式进行运动,使检测到的光功率大于设定的粗对准阈值。
3.如权利要求2所述的光有源器件的自动耦合对准方法,其特征在于,所述预设的螺旋扫描方式包括:设置多个光功率阈值区间:控制对准装置的直线滑台以10~20微米的初始步长、5~10微米的初始步长增量进行大范围初始螺旋扫描,同时检测光纤组件和光源组件的耦合光功率,直至检测到大于P1的光功率值,停止初始螺旋扫描;以该检测的光功率值所对应的阈值区间的步长和步长增量参数进行多级螺旋扫描,每级螺旋扫描完成后检测光功率,再以检测的光功率所对应阈值区间的步长和步长增量进行下一级扫描,直至达到或超过设定的粗对准阈值;其中,设置多个光功率阈值区间:P1—P2,P2—P3,…PN-1—PN,P1<P2<P3…<PN-1<PN,且N≤5,各阈值区间分别设置步长和步长增量参数,所有阈值区间的步长和步长增量的取值范围均为1~5微米,且各阈值区间的步长和步长增量按光功率阈值增大的顺序逐个减小。
4.如权利要求3所述的光有源器件的自动耦合对准方法,其特征在于,所述步骤S4中,所述预设的校验对准算法的步长和步数小于所述预设的对准算法中的步长和步数。
5.如权利要求4所述的光有源器件的自动耦合对准方法,其特征在于,所述预设的校验对准算法的步长为所述预设的对准算法中的步长的30%-70%,所述预设的校验对准算法的步数为所述预设的对准算法中的步数的30%-60%。
6.一种同轴型光有源器件的自动耦合封装方法,其特征在于,包括如权利要求1-5中任一项的步骤,以及包括步骤:在所述确定的耦合对准角度对所述光纤组件以及所述光源组件进行焊接。
7.一种同轴型光有源器件的自动耦合封装系统,包括耦合封装设备以及控制系统,其特征在于,所述控制系统包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
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