[发明专利]一种显示屏测试方法、示波器及存储介质

说明书

本发明所提供的一种显示屏测试方法、示波器及存储介质，其中，所述方法包括：设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样；对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标。通过设置示波器的测试参数，实现对显示屏的自动化测试，缩减了测试时长，保证了测试效率，且所需成本低。

技术领域

本发明涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及的是一种显示屏测试方法、示波器及存储介质。

背景技术

进入21世纪，随着LED电视技术越来越成熟，LED电视上配置的显示屏的价格越来越低，专门生产显示屏的显示屏厂商会通过不断迭代升级显示屏的方式来提升利润，但电视机厂商升级电视机主板的速率与显示屏厂商迭代升级显示屏的速率并不同步，因而，在为电视机主板配置显示屏时，则需要对电视机主板配置的显示屏进行性能匹配测试，以在众多型号的显示屏中匹配到最优的显示屏。

但是，目前对显示屏进行性能匹配测试的方式是采用人工手动测试，平均测试一台电视机需要花费5小时，进而造成测试效率低下，且损耗了大量的人工成本。

因此，现有技术存在缺陷，有待改进与发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种显示屏测试方法、示波器及存储介质，旨在解决现有技术中的对显示屏进行性能测试效率低下且人工成本高的问题。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种显示屏测试方法，其中，包括：

设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样；

对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标。

进一步地，所述设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样，之前包括：

通过示波器的串口控制红外发射装置发射红外码值，开启待测设备。

进一步地，所述设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样，之后包括：

根据定制参数所属测试项目调用对应的接线图并显示，其中，所述测试项目包括时序测试和眼图测试；

根据显示的接线图连接示波器与待测设备之间的电路。

进一步地，所述设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样，具体包括：

设置示波器中的定制参数，将定制参数的参数值分别赋予示波器的衰减器、放大器和内存控制器；

分别控制衰减器、放大器和内存控制器进行波形采样。

进一步地，所述根据定制参数所属测试项目调用对应的接线图并显示，其中，所述测试项目包括时序测试和眼图测试，之后还包括：

示波器通过串口控制信号发生器发送模式切换信号至待测设备。

进一步地，所述对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标，之前包括：

在示波器中预先设置与测试项目对应的定制参数，其中，与时序测试对应的定制参数包括：通道名称、通道抗阻、触发通道、触发电平、触发类型、时基、采样率及信号幅度。

进一步地，所述对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标，具体包括：

对示波器采集的波形进行数据分析与运算，并将分析出的数据与定制参数对应的标准参数进行对比；