[发明专利]一种干式空心电抗器绝缘薄膜老化性能的测试方法

权利要求书

1.一种干式空心电抗器绝缘薄膜老化性能的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

获得绝缘薄膜中的第一绝缘薄膜；

对所述第一绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第一测试结果；

准备测试装置，所述测试装置具有容纳腔，所述测试装置具备温度调节功能；

将所述第一绝缘薄膜置于所述容纳腔中；

将所述容纳腔中的温度调节至所述第一预设温度T1，所述第一预设温度T1为绝缘薄膜的最高允许温度，将所述容纳腔中的湿度调节至所述第一预设湿度H1，所述第一预设湿度H1为所述第一预设温度T1下的饱和湿度，老化第一预设时长M1；

将所述第一绝缘薄膜从所述容纳腔中取出；

对从所述容纳腔中取出的所述第一绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第二测试结果；

根据所述第一测试结果和所述第二测试结果，确定老化温度为所述绝缘薄膜的最高允许温度、老化湿度为在所述绝缘薄膜的最高允许温度下的饱和湿度时，干式空心电抗器绝缘薄膜在老化时间为所述第一预设时长M1下的老化性能。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述测试装置包括密封容器和烘箱，所述密封容器具有所述容纳腔，所述密封容器用于盛装水和所述绝缘薄膜，所述烘箱用于对所述密封容器进行加热。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，

所述密封容器为金属材质。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述第一预设时长M1大于或等于干式空心电抗器的设计寿命。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括如下步骤：

获得所述绝缘薄膜中的第二绝缘薄膜；

对所述第二绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第三测试结果，所述第三测试结果与所述第一测试结果的差值在预设范围内；

将所述第二绝缘薄膜置于所述容纳腔中；

将所述容纳腔中的温度调节至所述第一预设温度T1，将所述容纳腔中的湿度调节至所述第一预设湿度H1，老化第二预设时长M2，所述第二预设时长M2小于所述第一预设时长M1；

将所述第二绝缘薄膜从所述容纳腔中取出；

对从所述容纳腔中取出的所述第二绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第四测试结果；

根据所述第三测试结果和所述第四测试结果，确定老化温度为所述绝缘薄膜的最高允许温度、老化湿度为在所述绝缘薄膜的最高允许温度下的饱和湿度时，干式空心电抗器绝缘薄膜在老化时间为所述第二预设时长M2下的老化性能；

综合老化时间为第一预设时长M1和老化时间为第二预设时长M2下的测试结果，获得老化温度为所述绝缘薄膜的最高允许温度、老化湿度为在所述绝缘薄膜的最高允许温度下的饱和湿度时，干式空心电抗器绝缘薄膜在不同老化时间下的老化性能变化规律。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括如下步骤：

获得所述绝缘薄膜中的第三绝缘薄膜；

对所述第三绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第五测试结果，所述第五测试结果与所述第一测试结果的差值在预设范围内；

将所述第三绝缘薄膜置于所述容纳腔中；

将所述容纳腔中的温度调节至所述第一预设温度T1，将所述容纳腔中的湿度调节至所述第一预设湿度H1，老化第三预设时长M3，所述第三预设时长M3小于所述第二预设时长M2；

将所述第三绝缘薄膜从所述容纳腔中取出；

对从所述容纳腔中取出的所述第三绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第六测试结果；

根据所述第五测试结果和所述第六测试结果，确定老化温度为所述绝缘薄膜的最高允许温度、老化湿度为在所述绝缘薄膜的最高允许温度下的饱和湿度时，干式空心电抗器绝缘薄膜在老化时间为所述第三预设时长M3下的老化性能；

综合老化时间为所述第一预设时长M1、老化时间为所述第二预设时长M2、老化时间为所述第三预设时长M3下的测试结果，获得老化温度为所述绝缘薄膜的最高允许温度、老化湿度为在所述绝缘薄膜的最高允许温度下的饱和湿度时，干式空心电抗器绝缘薄膜在不同老化时间下的老化性能变化规律。